测试表征技术专区
-
如何表征催化剂?价态、配位环境、氧化态、中间体、反应路径、动态变化、局部结构、稳定性等!
说明:本文华算科技将从原位同步辐射XAS和原位光谱技术出发,深入解析其具体应用,以及它如何与其他表征技术协同作用,揭示了同步辐射XAS和一系列光谱技术在制备催化剂中的应用。 什么是…
-
XAS与能量偏移
文章华算科技系统阐述了X射线吸收光谱(XAS)如何通过测量吸收边及化学位移揭示原子局域结构与价态,并指出“能量偏移”这一因仪器漂移引入的系统误差会严重扭曲XANES与EXAFS分析…
-
什么是范德华材料?
范德华材料(Van der Waals materials)是指一类由原子层以范德华力(而不是化学键)彼此堆叠在一起的二维层状材料。范德华材料通常被称为二维材料(2D materi…
-
EPR中利用TEMP捕获单线态氧的迷惑点
在光化学、能源转换与生命科学等众多前沿领域中,“单线态氧”(singlet oxygen, 1O2)常被提及,甚至被视作不可或缺的活性氧物种之一。 什么是单线态氧? 众所周知,氧气…
-
XAS = XANES + EXAFS
本文华算科技系统阐述了X射线吸收光谱(XAS)的核心原理与价值,指出XAS由XANES和EXAFS两部分组成:XANES通过吸收边附近特征揭示中心原子的氧化态、配位对称性与电子结构…
-
XAS如何解析键长-吸收原子与近邻原子距离
说明:X射线吸收光谱(X-ray Absorption Spectroscopy, XAS)作为一种强大的材料结构表征技术,能够提供关于特定原子周围局部原子环境的精确信息,尤其在测…
-
原位与工况表征在电催化中的前沿应用:XAS、拉曼、红外及电镜技术解析
说明:本文华算科技全面介绍了原位与工况表征技术在电催化研究中的应用。首先解释了原位和工况表征的区别,接着详细阐述了原位/工况X射线吸收光谱、振动光谱(拉曼与红外)以及电镜等技术的原…
-
同步辐射μXRF在微区元素分布研究中的应用
说明:华算科技介绍了同步辐射μXRF的原理、技术优势、实验配置、应用领域及技术挑战。通过阅读,读者可以深入了解μXRF在微区元素分析中的独特价值,掌握其高灵敏度、高空间分辨率的检测…
-
什么是材料的亚稳相?
亚稳相(Metastable Phase)是指在特定条件下虽然不是材料热力学上最稳定的相态,但能够在较长时间内保持存在的相。简单来说:热力学上不是最低能量态(不是稳定相),动力…
-
软X射线显微术与磁性结构探测
说明:华算科技介绍了软X射线显微术(XRM)的原理、技术特性、成像方法、磁性探测机制及应用方向。通过阅读,读者可以深入了解软XRM在纳米尺度磁性结构研究中的独特优势,掌握XMCD效…
-
XANES可以得到的样品信息
这篇文章华算科技系统介绍了X射线吸收近边结构(XANES)光谱技术的基本原理及其可提供的核心信息,包括元素的电子结构(如氧化态、未占据态密度)和局部原子结构(如配位环境、对称性)。…
-
电子顺磁共振技术(EPR):原理、测试与数据分析及避坑点
1.EPR的原理简介 EPR是一种能够检测和研究含有未成对电子顺磁性物质的波谱技术。 电子有两种基本运动方式:电子绕原子核轨道运动,还有自旋运动。 在运动过程中会产生轨道磁矩和自旋…
-
超实用的电子能量损失谱(EELS)干货,赶紧收好!
1 引言随着纳米科学技术的发展与进步,科学家们对固体物质的原子层面的理解更加迫切,这大大促进了具有高空间分辨率的衍射和光谱学的研究发展。 其中,作为材料表面形貌分析必不可少的测试手…
-
FIB-SEM 三维重构:微观分析的核心技术,多领域应用揭秘
FIB-SEM的三维重构技术是当前微观结构分析的核心技术之一,其本质是通过“切割-成像-叠加”的循环,将样品内部的二维图像序列重建为三维立体模型。FIB-SEM三维重构技术凭借纳米…
-
材料分析必备工具|EDS 能谱仪:原理、应用与实战问题指南
能谱仪(Energy Dispersive Spectrometer,EDS)全称为能量色散X射线光谱仪,是一种通过检测物质受激发后产生的特征 X 射线能量,来快速分析材料元素组成…
-
TEM 三维重构:技术流程 + 材料表征实例,解锁纳米尺度新视角
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)技术,是通过让高能电子束穿透样品,根据电子束的散射差异形成二维图像,从而观察纳米甚至原子尺…
-
X射线光电子能谱(XPS/SXPS)的表界面探测能力
说明:华算科技介绍了X射线光电子能谱(XPS)的原理、技术优势、探测能力、应用场景及发展趋势。通过阅读,读者可以深入了解XPS在表界面研究中的“金标准”地位,掌握其化学态分析、深度…
-
透射电镜和扫描电镜的异同之处
透射电镜(TEM)是什么? 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)于1932年左右发明,是一种以波长极短的电子束作为电子光源,…
-
X射线吸收谱中的前沿解析方法
说明:华算科技介绍了X射线吸收谱(XAS)前沿区域的物理意义、解析方法、技术进展、应用场景及未来挑战。通过阅读,读者可以深入了解前沿解析在微观结构研究中的核心价值,掌握传统拟合、理…
-
X射线成像的相衬机制与重建算法
说明:华算科技介绍了X射线相衬成像(PCI)的原理、核心机制、重建算法、实验要点及应用前景。通过阅读,读者可以深入了解相衬成像在弱吸收样品研究中的核心优势,掌握不同成像方法的选择逻…