成分与化学态分析

说明：EELS表征空位的核心在于探测由空位产生而导致的邻近原子在电子结构和化学环境上的微小变化。本文华算科技就EELS如何表征氧空位这一问题详细介绍EELS原理、分析方法与注意事项…

说明：本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、环境扫描电子显微镜（ESEM）、能谱分析（EDS）和电子背散射衍射（EBSD）的工作原理、优势、测试…

电子能量损失谱（Electron Energy Loss Spectroscopy，EELS）是一种利用电子与样品相互作用后能量损失来分析样品成分、化学状态和结构的显微分析技术。本…

1 引言随着纳米科学技术的发展与进步，科学家们对固体物质的原子层面的理解更加迫切，这大大促进了具有高空间分辨率的衍射和光谱学的研究发展。 其中，作为材料表面形貌分析必不可少的测试手…

能谱仪（Energy Dispersive Spectrometer，EDS）全称为能量色散X射线光谱仪，是一种通过检测物质受激发后产生的特征 X 射线能量，来快速分析材料元素组成…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是一种利用高能电子束穿透样品后，通过电子与样品原子的相互作用产生的信号来成像的高分辨率显微…

本文介绍了扫描电镜的能谱元素分析在导电浆料行业、矿物检测中的应用，所介绍的实例是陈亮维在检测工作中曾经做的样品，在此特向送样人（客户）表达诚恳的谢意。是检测客户和检测者共同促进了扫…

摘要 本文介绍元素能谱特征峰的产生原理及应用，元素能谱特征峰不受元素化合价态的影响，讲述了元素能谱特征峰的检测中可能出现的和峰及逃逸峰的产生原理及计算、识别方法，列出各元素特征X射…

能谱EDS及TIA介绍 电子束照射样品会产生特征X射线； 通过探测和分析X射线可以得到一张按X射线能量大小分布的图谱； 因此EDS可以定性、半定量的确定样品中的大部分元素。 EDS…

1、引言自古以来，人类从未停止过对微观世界的探索，采用波长更短的电子束为光源的电子显微仪器打破了可见光的衍射极限，为人类打开了观察纳米世界的大门，使人们看到了在纳米尺度上研究单一原…

说明：本文围绕透射电子显微镜（TEM）的检测能力展开，详细介绍了其在材料微观结构表征、晶体结构与晶体学特性分析、成分与化学状态分析、动态过程与原位表征及特殊样品表征五大核心领域的具…

总结：本文以1970年代透射电子显微镜TEM领域的经典论文为核心，重点解读了电子能量损失谱EELS技术的原理（如零损耗峰、等离子峰、电离边的特征与应用）、定量分析方法（元素浓度计算…

总结：本文介绍了透射电子显微镜（TEM）在半导体行业的核心应用价值、关键成像技术，以及元素分析技术（EDS、EELS、EFTEM），还阐述了电子断层摄影术、电子全息术等先进技术在半…

总结：本文介绍了微束分析的定义、特点及常用技术分类，重点详解了能谱仪（EDS）技术的核心原理（包括X射线产生机制、特征X射线与轫致辐射X射线的区别）、数据输出形式（能谱图、定量结果…

总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的发展背景、早期技术探索，重点阐述了Albert Crewe在STEM领域的开创性贡献——包括提出使用场发射电子枪（FEG）解决电子源亮度不…

总结：本文详细介绍了陶瓷晶界微观结构的多种表征技术（如HRTEM、球差校正STEM、PEND、4D-STEM、EDS/EELS），阐述了不同技术在原子/纳米尺度观察晶界原子排列、元…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…

总结：本文详细介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的核心原理、不同应用模式、谱图特征与分析方法（零损失峰、等离子激元峰、内壳激发电离边等），梳理了该技术从早期反射电子能谱到现代能量…

总结：本文详细介绍了平插能谱的核心技术特点，包括四独立集成 SDD 探测器的环形设计、高立体角、高输出计数率、适配低加速电压与低探针电流的优势，以及在规避阴影效应、裙散效应等方面的…

总结：本文先简要回顾扫描电镜（SEM）的工作原理（逐点扫描成像）与核心构造（电子光学系统、信号收集系统、真空系统），再重点介绍聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）的常用分析技术（…