EELS
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EELS如何精准识别氧空位？详解原理、分析方法与实验注意事项
说明：EELS表征空位的核心在于探测由空位产生而导致的邻近原子在电子结构和化学环境上的微小变化。本文华算科技就EELS如何表征氧空位这一问题详细介绍EELS原理、分析方法与注意事项…
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看懂 EELS 谱图：零损失峰、低损失区、芯损失区有何用？
电子能量损失谱（Electron Energy Loss Spectroscopy，EELS）是一种利用电子与样品相互作用后能量损失来分析样品成分、化学状态和结构的显微分析技术。本…
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超实用的电子能量损失谱（EELS）干货，赶紧收好！
1 引言随着纳米科学技术的发展与进步，科学家们对固体物质的原子层面的理解更加迫切，这大大促进了具有高空间分辨率的衍射和光谱学的研究发展。 其中，作为材料表面形貌分析必不可少的测试手…
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TEM经典论文解读（1970s）：电子能量损失谱（EELS）及其他电镜技术的发展
总结：本文以1970年代透射电子显微镜TEM领域的经典论文为核心，重点解读了电子能量损失谱EELS技术的原理（如零损耗峰、等离子峰、电离边的特征与应用）、定量分析方法（元素浓度计算…
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透射电镜（TEM）赋能半导体：器件表征、成分分析及故障定位
总结：本文介绍了透射电子显微镜（TEM）在半导体行业的核心应用价值、关键成像技术，以及元素分析技术（EDS、EELS、EFTEM），还阐述了电子断层摄影术、电子全息术等先进技术在半…
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扫描透射电镜（STEM）如何实现单原子成像，推动电子显微学革命
总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的发展背景、早期技术探索，重点阐述了Albert Crewe在STEM领域的开创性贡献——包括提出使用场发射电子枪（FEG）解决电子源亮度不…
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TEM及衍生技术应用——从微观结构表征关联材料电学/机械性能
总结：本文详细介绍了陶瓷晶界微观结构的多种表征技术（如HRTEM、球差校正STEM、PEND、4D-STEM、EDS/EELS），阐述了不同技术在原子/纳米尺度观察晶界原子排列、元…
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电镜技术在陶瓷晶界表征上的应用：理论知识解析、样品制备和数据分析要点
总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…
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电子能量损失谱（EELS）解读：原理特性、谱图特征与分析、应用场景
总结：本文详细介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的核心原理、不同应用模式、谱图特征与分析方法（零损失峰、等离子激元峰、内壳激发电离边等），梳理了该技术从早期反射电子能谱到现代能量…
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电子能量损失谱（EELS）的技术原理及在材料领域的应用
说明：这篇文章由华算科技主要介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的基本原理及其在材料微观分析领域的重要应用。EELS是一种基于透射电子显微镜（TEM）的先进表征技术，通过测量高能电…
