TEM（透射电子显微镜）

SEM尺寸统计可以‌测量材料参数，优化材料制备工艺，提高其质量和性能。 手动标SEM尺寸 = 费时间 + 算错数 + 返工改… 用对软件：一键测量 + 自动统计 = 发…

  本文华算科技介绍了DM（Digital Micrograph）软件的安装方法、使用DM软件给图片上色的详细操作教程。 首先，扫码回复“315”获取DM软件。 什么是DM软件？ …

说明：本文华算科技详细介绍了球差校正电子显微镜（AC-TEM和AC-STEM）的原理、分类、工作模式及功能，重点阐述了其在材料科学中的应用。阅读本文，读者可以深入了解球差电镜的先进…

说明：本文华算科技全面介绍了XRD技术的原理、操作细节、数据分析方法及常见问题的解决策略。读者可深入了解XRD的原理，包括X射线的衍射机制和布拉格定律；学习使用Jade 6软件进行…

说明：穆斯堡尔谱学把57Fe等原子核变成“量子尺”：γ光子无反冲共振一次，就把样品的价态、自旋、配位、磁序、缺陷全部量化为IS、QS、Bhf三个可精确定量的参数，一张谱图即可区分F…

说明：本文华算科技介绍了电子显微镜的分类、工作原理、技术特点及选型方法。电子显微镜分为TEM、SEM、STEM和Cryo-EM等。文中对比了各类电镜的核心性能指标，并提出了根据观测…

说明：透射电子显微镜（TEM）、高分辨透射电子显微镜（HRTEM）以及扫描透射电子显微镜（STEM）在材料科学、生物学等众多领域应用广泛，其原理和功能各有特点。本文华算科技对三者的…

说明：本文华算科技介绍了电子衍射的原理及其在样品结构分析中的应用。文中详细解释了德布罗意方程和布拉格方程在电子衍射中的作用，并通过圆环直径与晶面间距的关系公式，展示了如何通过电子衍…

说明：本文华算科技介绍了缺陷的定义、分类及其对材料性能的提升机制。缺陷分为点缺陷、线缺陷、面缺陷和体缺陷。缺陷可引入新的能级、改变费米能级、提供迁移通道、降低迁移能垒，从而提升材料…

说明：本文华算科技介绍了高分辨透射电子显微镜（HRTEM）的原理、特性及应用。HRTEM可解析原子尺度的结构信息，但其图像并非原子的直接投影，而是相位差的间接反映。文中分析了成像参…

说明：在透射电镜（TEM）里，明场和暗场就像给材料“拍照片”的两种不同模式；就像拍照时让大部分光线透过物体，明场成像用的是穿过样品的“直射电子束”（透射束），而暗场则是专门“抓拍”…

说明：本文华算科技通过介绍缺陷与掺杂的定义、影响、表征与构建方法以及应用领域，系统性的介绍了什么是缺陷、什么是掺杂，明确介绍了两者的差异。通过本文将好地理解材料修饰方法中缺陷与掺杂…

说明：本文华算科技介绍了晶相工程的概念、作用、晶体相控制合成策略以及应用。通过阅读这篇文章，读者可以深入了解晶相工程如何通过调控材料的晶体结构来优化其催化性能，以及不同合成策略在实…

说明：本文华算科技详细介绍了透射电子显微镜（TEM）在原子结构解析、晶体缺陷分析、元素成分分布、电子结构特征、局域化学键合、原位动态观测、电荷密度与电场分布映射以及三维结构重构等方…

说明：本文华算科技详细介绍了聚焦离子束（FIB）技术在透射电子显微镜（TEM）样品制备中的应用。文中阐述了FIB的制备原理、样品定位与区域选择、离子束加工、薄片提取、精细减薄、损伤…

说明：本文华算科技介绍了球差电镜（AC-TEM）的原理和优势。球差电镜通过加装球差校正器，有效校正了普通电子显微镜的球面像差。它能在原子级别清晰分辨材料结构、降低成像伪影，并精准表…

说明：EELS表征空位的核心在于探测由空位产生而导致的邻近原子在电子结构和化学环境上的微小变化。本文华算科技就EELS如何表征氧空位这一问题详细介绍EELS原理、分析方法与注意事项…

说明：单晶具有唯一的晶面取向，衍射电子束在特定方向相干叠加，形成规则排列的衍射斑点；而多晶由无数随机取向的晶粒构成，其衍射电子束呈圆锥对称分布，从而在接收屏上呈现为一系列同心圆环。…

说明：本文华算科技讲解了XRD分析晶体缺陷的原理与方法，阐述了点、线、面、体类晶体缺陷如何通过晶格畸变和相干衍射域尺寸变化影响XRD图谱，表现为衍射峰宽化、强度变化、位移和畸变。文…

说明：本文华算科技系统阐述了如何通过透射电子显微镜选区电子衍射（SAED）技术深度解析晶体材料的微观结构信息，探讨了SAED在晶体对称性判定、晶格参数定量、相鉴定、缺陷分析及应变表…