X射线光电子能谱（XPS）作为一种强大的表面分析技术，广泛应用于研究材料的表面化学组成和电子结构。XPS通过测量从材料表面发射的光电子的能量和数量，能够提供关于表面元素的存在形式和化学态的详细信息。
为了准确分析和解释XPS数据，了解常用元素及其化合物的结合能（Binding Energy, BE）数据是至关重要的。
结合能表的重要性：
1. 元素识别：通过比较测量到的结合能与结合能表中的标准值，可以准确识别材料表面存在的元素。例如，C 1s的结合能约为284.8 eV（对于纯碳），通过测量到的结合能与这一标准值对比，可以确认样品中是否存在碳元素（普遍存在污染碳）。
2. 化学态分析：结合能表不仅包含元素的特征结合能，还提供了不同化学态下的结合能范围。通过分析结合能的偏移，可以推断元素的化学态。例如，C 1s的结合能在不同化学键中的变化如下：纯碳（C-C）：284.8 eV；羧基（C=O）：286.5 eV；酯基（C-O-C）：286.5 eV；酮基（C=O）：287.5 eV；醛基（C=O）：288.0 eV；碳酸盐（C=O）：290.0 eV。通过这些数据，可以判断样品中碳元素的具体化学态。
3. 数据解释与校正：结合能表为XPS数据的解释提供了重要的参考。在实际测量中，由于仪器漂移、样品污染等因素，测量到的结合能可能会出现偏差。通过结合能表，可以对这些偏差进行校正，提高数据的准确性和可靠性。
4. 材料性能优化：通过结合能表，可以深入了解材料的表面化学组成和电子结构，从而为材料的性能优化提供理论支持。例如，通过数据调整材料的化学组成和表面处理工艺，可以优化材料的催化性能、吸附性能和电化学性能。
结合能表是XPS技术教学和培训的重要工具。通过学习结合能表，初学者可以快速掌握XPS的基本原理和数据分析方法，提高对XPS技术的理解和应用能力。
这些数据不仅有助于识别表面存在的元素和化学态，还能为材料的性能优化提供理论支持。
以下详细介绍了常用元素及其化合物的结合能数据。
说明：下列数据是以污染碳C 1s的285 eV为基准。而目前污染碳C 1s校正常用标准为284.8 eV，但在XPS分析中，结合能通常不是一个固定的值，而是一个范围，这是因为元素在不同的化学环境中会表现出不同的结合能，这种现象称为化学态效应（Chemical Shift）。
例如Cu2+ 2p3/2结合能范围通常在933-939 eV（以284.8 eV为基准），通过下表查询了解CuO/Cu(OH)2对应结合能分别为933.9 eV和934.6 eV。
因此虽然基准存在0.2 eV的偏差，但并不影响下列数据的准确性与可靠性。
