SEM

说明：本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、环境扫描电子显微镜（ESEM）、能谱分析（EDS）和电子背散射衍射（EBSD）的工作原理、优势、测试…

  样品前处理 1. 清洁样品 目的：去除样品表面的杂质、污染物（如灰尘、油污、残留的化学试剂等），防止其掩盖样品真实的微观结构，影响图像质量。 方法：对于固体块状样品，可使用无尘…

说明：本文档系统介绍了扫描电子显微镜（SEM）的原理、结构、发展历程及其应用，涵盖电子枪类型、信号类型、台式与落地式设备对比等内容。 SEM结构和原理 扫描电子显微镜（SEM）由四…

说明：本文主要介绍了透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）和高分辨透射电子显微镜（HRTEM）的核心差异及选择方法。通过“黄金三步法”：明确观察目标（表面形貌或微观结构…

本文介绍了扫描电镜的能谱元素分析在导电浆料行业、矿物检测中的应用，所介绍的实例是陈亮维在检测工作中曾经做的样品，在此特向送样人（客户）表达诚恳的谢意。是检测客户和检测者共同促进了扫…

扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）作为材料微观世界探索的两大支柱技术，均利用电子束成像，但原理与应用差异显著。深入理解其区别，有助于研究者精准选择工具，高效揭示物质微观奥秘。 …

总结：本文详细介绍了两种主流电子显微镜技术——透射电子显微镜TEM与扫描电子显微镜SEM的基础理论、工作原理、核心组件，系统对比了两者在成像方式、样品要求、图像特征、加速电压及应用…

总结：本文介绍了透射电子显微镜（TEM）在半导体行业的核心应用价值、关键成像技术，以及元素分析技术（EDS、EELS、EFTEM），还阐述了电子断层摄影术、电子全息术等先进技术在半…

总结：本文先简要回顾扫描电镜（SEM）的工作原理（逐点扫描成像）与核心构造（电子光学系统、信号收集系统、真空系统），再重点介绍聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）的常用分析技术（…

总结：本文围绕聚焦离子束（FIB）展开，详细介绍了FIB与物质相互作用的基本原理（电子束、离子束、超短脉冲激光束与物质作用产生的信号及应用场景），系统阐述了FIB的三大核心部件（电…

总结：本文详细介绍了透射电子显微镜（TEM）的发展背景、核心工作原理、与扫描电子显微镜（SEM）的关键差异，以及TEM的三大核心系统（电子光学系统、真空系统、控制系统）及主要部件（…

总结：本文先对SEM中常见电子信号（二次电子、背散射电子、透射电子）与衬度的关系进行总结，随后重点聚焦SEM观察中的荷电效应——详细介绍其形成原因（不导电 / 导电不良样品电荷积累…

总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）像衬度的核心形成原理，重点阐述了形貌衬度、原子序数（成分）衬度、磁衬度、电位衬度、电子通道衬度（ECC）及密度衬度的产生机制，结合二次电…

总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）的基本工作原理及电子与样品相互作用产生的各类信号（二次电子、背散射电子、特征X射线等），涵盖不同信号的产生机制、能量与穿透深度特性、产额…

总结：本文重点阐述了场发射扫描电镜（以Apreo2为例）在硅基负极表征中的具体应用 —— 通过 T1/T2/T3探测器多维度观察循环前后硅基负极的形貌、导电网络及SEI膜变化，辅助…

总结：本文围绕扫描电镜（SEM）技术展开，系统介绍了SEM的成像原理（电子束扫描与信号检测）、核心结构（电子枪、真空系统、电磁透镜、探测器等）、电子束与样品的相互作用机制（弹性 /…

总结：本文围绕 “如何获得高质量SEM图片” 展开，详细介绍了SEM高质量图片的8大评价标准，并从样品制备、仪器参数调整、常见成像假象解决三大核心维度，结合具体案例与图表提供实操方…