技术发展
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透射电镜（TEM）详解：从原理、构造到样品制备，全方位掌握高分辨率微观表征技术
总结：本文全面介绍了透射电镜TEM的核心知识体系，包括发展历程、基本原理、核心构造、成像机制与衬度类型，详细阐述了选区电子衍射技术及针对粉末、块状、高分子等不同类型样品的制备方法，…
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原位透射电镜在半导体中的应用：实时观察应变与位错演变，助力器件性能优化
总结：本文详细介绍了原位透射电镜技术在半导体研究中的核心应用，围绕半导体异质结构中应变与位错的动态观察展开，阐述了原位TEM的基本原理、技术实现、样品制备方法，重点呈现了其在半导体…
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半导体异质结构缺陷电镜观察：从位错表征到衍生技术，表征材料应变诱导缺陷
总结：本文围绕半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察展开，详细介绍了半导体异质结构中应变诱导缺陷的产生机制，系统阐述了透射电子显微镜TEM的多种成像技术——双束条件TBC成像…
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透射电镜样品离子减薄技术：低能损伤控制与非晶化研究
总结：本文围绕透射电镜（TEM）样品的离子减薄制备技术展开，详细介绍了离子减薄过程中损伤（如非晶层形成、表面粗糙化）的产生机制，系统梳理了硅和GaAs材料在不同离子能量、入射角下的…
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冷冻电镜断层成像（Cryo-ET）技术解读：技术原理、优劣分析、样品制备、数据采集及图像解读
总结：本文详细介绍了冷冻电镜断层成像（Cryo-ET）技术的核心体系，包括技术原理、核心优势与局限性，系统阐述了技术全流程——样品制备、数据采集、断层重建，以及子断层图像平均法（S…
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电子叠层衍射成像技术解读——一文读懂原理、优势与挑战，助力亚埃级表征
总结：本文详细介绍了电子叠层衍射成像（Ptychography）技术的核心原理、技术关键、显著优势，系统阐述了该技术与扫描透射电镜（STEM）、四维（4D）STEM的结合应用，同时…
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碳材料TEM研究全历程：从早期晶格成像到原子级解析，见证石墨、石墨烯的科学突破
总结：本文以时间为主线，详细介绍了透射电子显微镜（TEM）技术的发展与碳材料研究相互促进的历史进程，涵盖TEM技术的核心演进，以及其在碳材料领域的关键成果——从20世纪40年代观察…
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电镜（TEM/SEM）中的辐照损伤——一文读懂辐照损伤类型、阈值规律与防护策略
总结：本文详细介绍了透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）中辐照损伤的核心机制——包括弹性散射引发的原子位移、电子束溅射，非弹性散射导致的电子束加热、静电充电、无机/有…
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原位 TEM 样品杆解析：加热/气氛/液相样品杆到MEMS创新，解锁材料动态观测新可能
总结：本文详细介绍了原位透射电镜（In-situ TEM）技术中核心组件——样品杆的发展历程、分类及应用。涵盖传统加热样品杆、原位气氛加热样品杆、原位液相样品杆，重点阐述了微机电系…
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冷冻电镜单颗粒分析（SPA）技术指南：从样品制备到三维重构，解锁生物大分子高分辨率结构
总结：本文详细介绍了冷冻电镜单颗粒分析（SPA）技术的核心原理、完整工作流程，重点阐述了关键技术环节的实操要点及常见问题解决方案，同时提及技术相关的核心概念。 读者可学习到冷冻电镜…
