技术发展
-
叠层成像技术突破限制：在未校正设备实现 0.44 埃超高分辨率
总结：本文详细介绍了叠层成像技术的技术原理（通过采集不同探针位置的会聚束衍射图样，结合计算重构消除像差影响）、在未校正扫描透射电镜（STEM）中的突破性应用（对扭转二硒化钨双分子层…
-
单颗粒冷冻电镜技术：解析技术突破、应用价值与未来方向，赋能生物大分子结构研究
总结：本文详细介绍了单颗粒冷冻电镜技术的发展背景、历史演进、核心技术突破（直接电子检测相机提升信号质量、新图像处理算法优化数据解析、显微镜自动化降低使用门槛），以及在结构生物学领域…
-
扫描透射电镜（STEM）的相干与非相干成像解析：原理、探测器选择与应用策略
总结：本文详细介绍了扫描透射电镜（STEM）中相干成像与非相干成像的核心概念、特性差异、关键影响因素，以及部分相干成像的特点，同时阐述了不同探测器（ADF、HAADF、cBF）对成…
-
EDS平插能谱技术特点与多领域应用案例解读：助力高效开展材料分析与科研探索
总结：本文详细介绍了平插能谱的核心技术特点，包括四独立集成 SDD 探测器的环形设计、高立体角、高输出计数率、适配低加速电压与低探针电流的优势，以及在规避阴影效应、裙散效应等方面的…
