样品制备

说明：本文华算科技详细介绍了聚焦离子束（FIB）技术在透射电子显微镜（TEM）样品制备中的应用。文中阐述了FIB的制备原理、样品定位与区域选择、离子束加工、薄片提取、精细减薄、损伤…

FIB-SEM的三维重构技术是当前微观结构分析的核心技术之一，其本质是通过“切割-成像-叠加”的循环，将样品内部的二维图像序列重建为三维立体模型。FIB-SEM三维重构技术凭借纳米…

  透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy，简称 TEM）作为现代材料科学、生命科学及纳米技术研究中最重要的分析工具之一，凭借其高分辨率成…

TEM 样品的制备方法多样，具体选择取决于材料本身的特性。恰当的制备方式直接影响透射电镜的成像质量与实际观察效果。举例来说，对于粉末样品或分散液，常采用超声分散法进行处理；合金类样…

聚焦离子束（Focused Ion Beam，FIB）加工是一种基于高能离子束与物质相互作用的精密微纳加工技术，通过将离子束聚焦为纳米级束斑，利用离子束轰击样品表面，实现材料的刻蚀…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）观察粉末样品是纳米材料研究的重要手段之一。本文介绍了TEM观察粉末样品的两种方法、常用的粉…

样品制备重要性 透射电子显微镜分辨率高、放大倍数高，可以揭示物质内部的微细观结构，是人们了解、认识事物内部结构不可缺少的工具。观察透射电镜的最终目的是得到清晰、高质量的照片，要想摄…

透射电子显微镜（TEM）的工作原理是利用加速和聚焦的电子束投射到极薄的样品上，电子在样品中与原子发生碰撞后改变方向，从而产生立体角散射。这种散射的效果与样品的密度和厚度紧密相关，进…

透射电子显微镜（Transmission electron microscope, TEM）是使用最为广泛的电子显微镜之一，和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。T…

透射电子显微镜（Transmission electron microscope, TEM）是使用最为广泛的电子显微镜之一，和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。T…

透射电镜（TEM）是什么？ 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope， TEM）于1932年左右发明，是一种以波长极短的电子束作为电子光源，…

总结：本文全面介绍了透射电镜TEM的核心知识体系，包括发展历程、基本原理、核心构造、成像机制与衬度类型，详细阐述了选区电子衍射技术及针对粉末、块状、高分子等不同类型样品的制备方法，…

总结：本文系统介绍了透射电镜（TEM）样品制备的完整技术体系，针对有机/生物类软质样品，详细阐述了超薄切片、免疫标记、染色、冷冻固定、化学固定、脱水、渗透、聚合等关键步骤及负染色、…

总结：本文详细介绍了材料科学领域透射电子显微镜（TEM）样品的制备技术体系，明确了TEM样品需满足的7项基本要求，系统阐述了5大核心制备方法——TEM样品载网法、离子减薄、电解抛光…

总结：本文以时间线为脉络，系统介绍了生物样品透射电子显微镜（TEM）制备方法的发展历程，涵盖 9 大核心技术领域：化学固定、低温固定法、包埋介质、超薄切片技术、染色技术、金属阴影与…

总结：本文详细介绍了适配 80-120 kV 透射电镜（TEM）的生物样品制备方法，针对颗粒样品，阐述了负染色法和快速冷冻法的操作步骤与成像对比度特点；针对细胞和组织样品，系统讲解…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜单颗粒分析（SPA）技术的核心原理、完整工作流程，重点阐述了关键技术环节的实操要点及常见问题解决方案，同时提及技术相关的核心概念。 读者可学习到冷冻电镜…

总结：本文详细介绍了聚焦离子束（FIB）与透射电镜（TEM）结合的技术体系，包括TEM的核心分析能力、FIB技术的发展简史与基本原理，重点阐述了FIB在TEM样品制备中的关键作用，…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…

总结：本文围绕聚焦离子束（FIB）展开，详细介绍了FIB与物质相互作用的基本原理（电子束、离子束、超短脉冲激光束与物质作用产生的信号及应用场景），系统阐述了FIB的三大核心部件（电…