电子衍射分析
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透射电镜TEM结果分析实操指南:用Digital Micrograph搞定晶格标定与 SAED 晶相判断
总结:本文详细介绍了透射电镜TEM结果的分析处理方法,重点围绕Digital Micrograph软件的实操展开,包括HRTEM图像分析和选区电子衍射SAED分析,明确了不同文件格…
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透射电镜(TEM)详解:从原理、构造到样品制备,全方位掌握高分辨率微观表征技术
总结:本文全面介绍了透射电镜TEM的核心知识体系,包括发展历程、基本原理、核心构造、成像机制与衬度类型,详细阐述了选区电子衍射技术及针对粉末、块状、高分子等不同类型样品的制备方法,…
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TEM电子衍射在异质结构应变缺陷表征中的应用
总结:本文详细介绍了电子衍射技术在半导体异质结构应变缺陷表征中的核心应用,系统阐述了四种关键电子衍射技术——选区电子衍射SAED、会聚束电子衍射CBED、纳米束电子衍射NBD、旋进…
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TEM技术SAED/CBED/HAADF解密准晶(QCs)的结构与应用潜力
总结:本文详细介绍了准晶(QCs)这一颠覆传统晶体对称性的新材料,包括其发现历程、核心特征、分类,重点阐述了透射电子显微镜TEM技术在准晶结构研究中的核心应用——通过选区电子衍射S…
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TEM旋进电子衍射(PED)技术导论:核心原理、技术优势及衍生技术发展
总结:本文详细介绍了旋进电子衍射(PED)技术的核心原理、技术优势,阐述了PED在晶体结构求解中的应用进展(如晶带轴PED/ZA-PED、衍射叠层ADT-PED、扫描旋进电子衍射S…
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TEM 经典论文(1928-1970)梳理:晶体缺陷、成像技术和衍射理论
总结:本文介绍了1928-1970年间材料/物理领域与透射电子显微镜(TEM)相关的经典论文,重点梳理了TEM在晶体缺陷研究中的关键突破(如位错、沉淀物、晶界、无沉淀区等缺陷的成像…