如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

说明:本文华算科技主要介绍了晶体结构的基本要素,包括空间点阵和基元,以及晶体学核心参数如点阵基矢晶格常数和七大晶系。详细解释了晶向指数、晶面指数、晶面间距和晶带的概念及其在透射电子显微镜TEM)分析中的重要性,包括如何获取衍射花样、确定晶带轴以及TEM中寻找晶带轴的方法。

晶体结构的基本要素

所有晶体结构都由两个基本要素构成:

1. 空间点阵:由无限周期排列的几何点(格点)构成的三维阵列,描述晶体的周期性

2. 基元:附着在每个格点上的原子、离子或分子集团,描述晶体的化学组成

晶体结构 = 空间点阵 × 基元

为了描述空间点阵,我们引入了晶胞的概念——它是能够复制出整个晶体点阵的最小体积单元

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

DOI:10.13140/RG.2.2.30325.63202

晶体学核心参数

点阵基矢与晶格常数

点阵基矢(a1a2a3:定义晶胞大小和形状的三个不共面的矢量。晶胞就是一个以基矢为邻边的平行六面体。

晶格常数:描述晶胞大小的参数它决定了原子密度、化学键长等基本性质。基矢的模长 a=|a₁|, b=|a₂|, c=|a₃|,以及它们之间的夹角α,β,γ 。这六个参数共同定义了晶胞的尺寸和形状。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

2:点阵基矢与晶胞参数。

七大晶系

根据晶胞的对称性(即六参数a, b, c,α,β,γ的关系),所有晶体可分为七大晶系。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?
如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

37大晶系及14种布拉格点阵。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

47大晶系的变换方式。

晶向指数与晶面指数

晶向指数 [uvw] 表示晶体中原子列的方向求法:通过该方向上的矢量在基矢上的坐标分量,化简为互质整数。

晶面指数/米勒指数(hkl):表示晶体中原子构成的平面求法:求晶面在三个晶轴上的截距倒数,化简为互质整数。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

5:晶向指数与晶面指数。

晶面间距 dhkl相邻两个平行(hkl)晶面间的垂直距离。

其计算公式取决于晶系,例如:

立方晶系如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

这是将衍射数据与晶体结构关联起来的最关键参数值是物相鉴定的指纹。通过与标准PDF卡片比对,可以确定材料的晶体结构和物相。

电子衍射花样中的每一个斑点都对应一组(hkl)晶面通过测量斑点距中心斑的距离 R,利用 d=Lλ/R 公式即可直接获得该晶面的 d 值。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

6:晶面间距及标定方法。

晶带与晶带轴

所有平行于同一晶向的晶面构成一个晶带,该晶向称为晶带轴 [uvw]。在TEM中,电子束的入射方向就是晶带轴方向

晶带定律:属于同一晶带轴 [uvw]的所有晶面(hkl)满足:

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

此公式是标定TEM衍射花样的黄金法则。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

7:晶带轴与晶面示意图。

为什么晶带轴在TEM分析中如此重要?

TEM操作中,花费大量时间倾转样品以寻找特定的晶带轴,绝非随意之举,而是进行高质量分析的关键前提

1. 获得对称、清晰的衍射花样

当电子束严格沿一个低指数晶带轴 [100][110][111]入射时,晶体处于对称取向,衍射斑点会呈现规则、对称的排列(如正方形、六边形)。这极大地简化了衍射花样的标定过程,减少了标定错误。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

DOI:10.1038/s41560-025-01852-3

2. 实现高质量的HRTEM成像

HRTEM图像是透射束与多支衍射束相互干涉形成的。只有在特定的晶带轴下,才能同时激发多支强衍射束,从而产生能够反映晶体结构周期性、可用于定量分析的清晰晶格条纹。随意取向下的高分辨像往往衬度混乱,难以解释。

3. 进行准确的衍射衬度分析

研究晶体缺陷如位错、层错时,必须应用必须应用 g*b=0不可见性判据来确定位错的伯格斯矢量 b。这需要系统地将样品倾转到不同的双束条件,而每一次倾转,都是在寻找一个新的、特定的晶带轴取向。没有精确的晶带轴控制,缺陷分析根本无法进行。

4. 确定晶体取向与相互关系

通过标定晶带轴,可以确定单个晶粒的绝对取向。对于多晶材料或异质结构,可以通过比较不同区域如基体与析出相、薄膜与基底的晶带轴,来确定它们之间的取向关系

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

8:不同带轴的衍射花样。

衍射花样与晶带轴

1. 获取衍射花样电子衍射花样是倒易点阵的二维截面。在TEM模式下,在感兴趣的微区获取选区电子衍射SAED花样。花样中的每一个斑点对应正空间的一组晶面(hkl)

2. 获取晶面间距测量它们的 R1 R2,计算 d1 d2。与理论值比对,标定为
(h1k1l1(h2k2l2

3. 确定晶带轴 [uvw]通过叉乘计算晶带轴[uvw]=(h1k1l1)×(h2k2l2将结果[uvw]化简为互质整数。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

9:不同带轴的衍射花样。

TEM如何寻找晶带轴?

1. 低倍定位×1000×5000找到单晶粒,确保厚度100-500 Å过厚斑重叠,过薄信号弱。

2. 衍射模式:切换SAED,缩小选区光阑至单晶粒,获取初始斑阵。

3. 倾转调整:倾转样品台αβ角,直至斑阵对称、中心斑与周围斑强度均匀。

4. 高分辨验证:切换HRTEM,观察到清晰晶格条纹即转正成功。

如何从TEM斑点中定位“晶带轴”?

10TEM倾转样品台示意图。

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