测试表征技术专区

总结：本文详细介绍了原位透射电子显微镜（In-situ TEM）技术的核心特点（可在外部刺激如温度、应力、电场等条件下动态观察材料原子/纳米级行为）、实验设计逻辑，以及在相变、电池…

总结：本文介绍了1970年代透射电子显微镜（TEM）领域的多篇经典论文，重点解读了调幅分解理论在Cu-Ni-Fe合金中的实验验证、高分辨透射电子显微镜（HRTEM）成像技术的关键进…

总结：本文介绍了现代电子显微学领域虽在分辨率提升（如球差校正技术实现亚埃级分辨率）方面取得显著进展，但仍存在的一系列尚未解决的核心问题，包括理论图像模拟与实验显微像衬度差异大、电子…

总结：本文详细介绍了4D-STEM技术的定义（通过阵列化探测器记录扫描过程中每个探针位置的二维衍射图案，形成四维数据集）、命名规则与术语演变，阐述了其探测器的发展历程、核心计算方法…

总结：本文详细介绍了陶瓷晶界微观结构的多种表征技术（如HRTEM、球差校正STEM、PEND、4D-STEM、EDS/EELS），阐述了不同技术在原子/纳米尺度观察晶界原子排列、元…

总结：本文详细介绍了选区电子衍射（SAD）技术的核心原理（基于电子波动性与布拉格定律）、倒易空间的概念（倒易矢量与晶格转换关系），以及不同类型衍射图谱（粉末、单晶、孪晶、多相、双衍…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…

总结：本文详细介绍了叠层成像技术的技术原理（通过采集不同探针位置的会聚束衍射图样，结合计算重构消除像差影响）、在未校正扫描透射电镜（STEM）中的突破性应用（对扭转二硒化钨双分子层…

总结：本文详细介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的核心原理、不同应用模式、谱图特征与分析方法（零损失峰、等离子激元峰、内壳激发电离边等），梳理了该技术从早期反射电子能谱到现代能量…

总结：本文详细介绍了单颗粒冷冻电镜技术的发展背景、历史演进、核心技术突破（直接电子检测相机提升信号质量、新图像处理算法优化数据解析、显微镜自动化降低使用门槛），以及在结构生物学领域…

总结：本文详细介绍了扫描透射电镜（STEM）中相干成像与非相干成像的核心概念、特性差异、关键影响因素，以及部分相干成像的特点，同时阐述了不同探测器（ADF、HAADF、cBF）对成…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜（Cryo-EM）的定义、发展历程、核心技术分类（含冷冻透射电子显微镜Cryo-TEM与冷冻传输扫描电镜Cryo-SEM），深入阐述了 “为何需要冷冻样…

总结：本文详细介绍了平插能谱的核心技术特点，包括四独立集成 SDD 探测器的环形设计、高立体角、高输出计数率、适配低加速电压与低探针电流的优势，以及在规避阴影效应、裙散效应等方面的…

说明：本文由华算科技整理，通过阐述透射电镜与传统显微镜的差异，透射电镜图像衬度的形成机制，包括相位衬度和振幅衬度（质厚衬度、衍射衬度），质厚衬度和衍射衬度的原理及其在不同试样中的特…

说明：本文华算科技介绍了XAFS及其XANES与EXAFS的原理、能量范围及应用，还解读相关论文中二者在催化剂研究的作用。读者可系统学习到XANES与EXAFS的核心知识，了解二者…

说明：本文接续上一篇：XAFS数据处理新手教程-Artemis，Artemis对于样品的拟合需要更多的尝试，上文讲述对于标准样品拟合得到振幅衰减因子S02=0.87，当我们得到振幅…

说明：Artemis是用来对EXAFS数据进行拟合的常用软件，本文华算科技介绍了从Athena导出数据后开始，到拟合结束的全部过程，通过对数据拟合我们可以得到配位数N、振幅衰减因子…

说明：Athena对XAFS数据处理是目前应用最多的软件，本文华算科技介绍了从软件下载到Athena处理数据的过程，通过这些步骤可以分析出样品的特征结构、配位环境、价态变化、近邻配…

说明：本文华算科技从基本物理过程、谱图特征、价态判定、局域结构解析、简称、专业术语对XAS进行了基础讲解。 通过上述六个方面的解读，可以一次性掌握 XAS 的“能力”：不仅知道这项…

总结：本文以中国科学院化学研究所冷冻电镜平台的研究成果为基础，介绍了冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM）技术的发展背景、核心优势，以及其在化学材料领域的六大典型应用（不耐电子束损…