测试表征技术专区
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XAS vs XRD:互补技术如何拼出材料全貌?
在现代材料科学的宏伟蓝图中,理解物质的结构是推动创新的核心驱动力。然而,任何单一的表征技术都如同盲人摸象,只能揭示材料的某一个侧面。为了拼凑出材料的完整图像,科学家们必须联合使用多…
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同步辐射技术解读
本文华算科技介绍了同步辐射技术的原理、发展历程及其在科学研究中的核心应用。读者可系统学习到同步辐射的物理本质、光源特性、束线设计及多种前沿实验手段,了解其在材料科学、生命科学和能源…
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孪晶及其衍射斑
孪晶及其衍射斑 对铜或镁合金有了解的朋友们想必对下面图片里的这种形貌并不陌生: 图片中展示的是很典型的孪晶形貌。所谓孪晶,是指两个晶体(或一个晶体的两部分)沿一个公…
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扫描电镜的能谱元素分析在微区物相检测中的应用
本文介绍了扫描电镜的能谱元素分析在导电浆料行业、矿物检测中的应用,所介绍的实例是陈亮维在检测工作中曾经做的样品,在此特向送样人(客户)表达诚恳的谢意。是检测客户和检测者共同促进了扫…
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X射线吸收光谱(XAS)与X射线光电子能谱(XPS)的原理与应用深度解读
本文华算科技介绍了X射线吸收光谱(XAS)与X射线光电子能谱(XPS)的原理与应用,帮助读者理解两者在电子结构研究中的异同与互补性。读者可以系统学习到XAS和XPS各自的探测方式、…
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如何利用TEM分析拉伸孪晶和压缩孪晶
了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 孪生变形 与立方晶格结构金属以位错滑移机制实现塑性变形不同,密排六方的晶格结构需要耦合多种变形机制才能实现任意方向上的塑性变形; 由于…
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如何分析层错(SF)
了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 Stacking fault(堆垛层错) 实际晶体结构中,密排面的正常堆垛顺序遭到破坏或错排时,会产生堆垛层错,简称层错。 堆垛层错(S…
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XPS表征:原理、步骤、谱图分析及安装指南
免费下载!同步辐射XAFS数据处理拟合软件Athena安装、教程、讲习班视频! 说明:在催化、电池、半导体界面等研究中,XPS是最常见表征之一,它不仅能探测样品表面的元素种类以…
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能源存储前沿:同步辐射优化电池和超级电容器设计
在全球对可持续能源解决方案的需求日益迫切的今天,高性能电池和超级电容器等储能技术已成为推动能源革命的核心。然而,要实现能量密度、循环寿命和安全性的突破性进展,关键在于深入理解并精准…
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光束线揭秘:同步辐射光学系统的集成化设计如何工作
引言 同步辐射光源被誉为“超级显微镜”,它能产生比常规X光机强数亿倍的高亮度、高准直性光束,为材料科学、生命科学、化学、医学成像等众多前沿研究领域提供了无可替代的探测工具 …
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如何利用TEM快速判断位错类型
在透射电子显微镜(TEM)观察过程中,我们常常看能观察到大量位错线(图1),但如何准确区分其类型(刃型位错、螺型位错和混合位错)呢?本文将从分析原理、拍摄参数(g矢量)的选择与位错…
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一文读懂孪晶:FCC、BCC、HCP 结构的孪晶衍射规律全解析
孪晶(Twin)是指晶体内部原子排列形成的一种特殊对称结构——同一晶体中,两部分(或多部分)原子以特定的对称关系(如镜像、旋转)排列。这种结构广泛存在于金属、半导体等晶体材料中,对…
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立方晶系部分织构极图
本文修订了立方晶体金属的立方织构(001)[100]、剪切织构(001)[110]、高斯织构(110)[001]和黄铜织构(110)[112]的理论极图。这些基础数据…
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能谱元素分析中和峰与逃逸峰的识别与计算
摘要 本文介绍元素能谱特征峰的产生原理及应用,元素能谱特征峰不受元素化合价态的影响,讲述了元素能谱特征峰的检测中可能出现的和峰及逃逸峰的产生原理及计算、识别方法,列出各元素特征X射…
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第四代光源的突破:空间相干度测量与衍射成像技术
引言 进入21世纪第三个十年,全球同步辐射光源技术正经历一场深刻的革命。以衍射极限储存环(Diffraction-Limited Storage Rings)为核心特征的第四代同步…
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透射电镜(TEM)能谱数据如何分析?
能谱EDS及TIA介绍 电子束照射样品会产生特征X射线; 通过探测和分析X射线可以得到一张按X射线能量大小分布的图谱; 因此EDS可以定性、半定量的确定样品中的大部分元素。 EDS…
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论文中关于TEM常用的英文缩写总结
前言 英文缩写词是一个单词或词组的简写形式。 特定的缩写词使得词语更加易懂。 缩写词不仅有效缩短了著作的长度,有时还能显出作者精通该领域。 来看看你对TEM领域的缩写了解多少 01…
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TEM明场像和暗场像分析技术介绍
TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜(TEM)的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度(衬度:即不同区域的亮暗差别)成像,由衍射衬度原理形成的电子图…
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TEM分析技术的特点及独特优势
-专-业- -稳-定- -高-效- —— 简介 —— 透射电子显微镜(简称透射电镜,TEM)是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜,它用聚焦电子束作为照明光源,使用对电…
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TEM基础知识详解
一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些? 一般材料在做TEM检测时关注:各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等,特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构:各个相晶粒的尺寸、形状分…