测试表征技术专区
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材料比表面积和孔径分析(BET)
✦ ✦ 什么是 BET 测试? ✦ BET 比表面积测试可用于测颗粒的比表面积、孔容、孔径分布以及氮气吸附脱附曲线。对于研究颗粒的性质有重要作用。 BET 比表面积…
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吸收谱与单原子:利用X射线洞察原子尺度的微观世界
本文华算科技所探讨的“单原子”主要指代材料科学领域(如单原子催化剂)中分散的、作为特定研究对象的原子,而非物理学中被精确囚禁的孤立单原子。本文将深入剖析XAS如何成为连接宏观性质与…
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XAS的发展历程
本文华算科技将系统性地回顾XAS从理论萌芽到现代尖端应用的百年发展历程,追溯其每一次重大飞跃背后的科学思想与技术革新。 引言:洞悉微观世界的“超级眼睛” 在科学探索的宏伟画卷中,人…
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原位测试之原位红外、原位拉曼
原位红外 01 原位红外和红外的区别 红外可以观察到原子间相对振动、转动所产生的波数,因此普通红外通过透射可以获得样品的骨架结构,而原位红外又可分为透射和漫反射两种…
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原位测试之原位XPS、原位XRD
反应相变机理及使用环境下结构演化规律是材料构效关系研究的重要内容,目前常用的离位表征手段,往往不能反映真实结构变化过程(尤其是在电池材料的表征中,由于不同极片间的物理差异和拆装…
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X 射线光电子能谱(XPS)原理及谱图分析
01 XPS 的基本原理 一定能量的 X 光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hv=Ek+…
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三种常用热分析方法的介绍与比较
热分析技术是在温度程序控制下研究材料的各种转变和反应,是一种十分重要的分析测试方法。常用的热分析方法有:热重法(TG)、差热分析法(DTA)、差示扫描量热法(DSC)。 各类热…
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程序升温化学吸附分析仪 TPD/TPR/TPO
化学吸附是物质表面研究领域的重要分支,指的是吸附质分子与固体表面原子(或分子)之间发生电子转移、交换或共有的过程,形成化学吸附键的现象。在此背景下,化学吸附仪成为了不可或缺的工…
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吸收谱与电极材料
本文华算科技将系统阐述吸收谱技术的基本原理,深入剖析其与电极材料结构特性之间的内在联系,并重点介绍该技术在原位表征电化学过程中的前沿应用。 引言 飞速发展的能源科学与材料科学领域,…
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探索物质微观世界的奥秘:X 射线衍射(XRD)测试(上)
X 射线衍射(X-ray Diffraction,简称 XRD)技术作为一种强大的分析工具,在材料科学、地质学、化学、物理学以及生物医学等多个领域发挥着不可替代的作用。 …
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XRD图怎么看?
说明:在材料科学与化学工程领域,X 射线衍射光谱(XRD)是一项不可或缺的分析技术,能解锁晶体结构、物相组成等关键信息。 本文将从XRD定义、应用场景、核心公式、图谱解读、分析方法…
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XAS的原理
本文华算科技将系统阐述XAS的核心物理原理、实验装置与数据采集流程、光谱解析方法,并探讨其技术优势、局限性及未来发展趋势。 摘要 X射线吸收光谱(X-ray Absorption …
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成分分析技术——气相色谱-质谱 GC-MS 联用(二)
气相色谱法-质谱法联用(简称气质联用 GC-MS)是将气相色谱仪器(GC)与质谱仪(MS)通过适当接口(interface)相结合,借助强大的计算机技术,进行联用分析的技术…
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成分分析技术——气相色谱-质谱 GC-MS 联用(一)
气相色谱法-质谱法联用(简称气质联用 GC-MS)是将气相色谱仪器(GC)与质谱仪(MS)通过适当接口(interface)相结合,借助强大的计算机技术,进行联用分析的技术。 发展…
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无损检测手段之一 —— 工业 CT 的应用
CT 主要分为工业 CT、显微 CT、纳米 CT,其区别如下: 显微 CT(Micro-CT) 显微 CT 是一种非破坏性的 3D 成像技术,可以在不破坏样本的情况…
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XRD如何计算层间距?布拉格定律与分析方法全解析
说明:本文华算科技介绍了X射线衍射XRD在分析层间距中的应用,包括XRD原理、层间距定义、布拉格定律及计算分析方法,并介绍了XRD如何与SEM、TEM、AFM、FTIR、Raman…
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元素分析——电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)
ICP-OES 的发展历史 在 19 世纪初,Brewster(布鲁斯特)等人从酒精灯的火焰中观察到了原子发射现象,并认识到原子发射光谱可以替代“繁琐的化学分析…
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电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)的原理及应用
MS(Inductively coupled plasma-Mass Spectrometry)全称是电感耦合等离子体-质谱法,它是一种将 ICP 技术和质谱技术结合在一起的分析…
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成分分析技术——气相色谱-质谱 GC-MS 联用(四)
气相色谱法-质谱法联用(简称气质联用 GC-MS)是将气相色谱仪器(GC)与质谱仪(MS)通过适当接口(interface)相结合,借助强大的计算机技术,进行联用分析的技术…
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XPS 峰为何左移或右移?氧化态、电荷转移等关键因素拆解
说明:本文华算科技主要讲解X射线光电子能谱(XPS)峰左移和右移的核心原因,理清氧化态变化、电子云密度改变、电荷转移、表面态变化等关键影响因素,包含实验中的校准问题等实用要点,可以…