TEM
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五大电镜测试技术总结!SEM、TEM、ESEM、EDS、EBSD
说明:本文详细介绍了五种主流电镜测试技术(SEM、TEM、ESEM、EDS、EBSD)的原理、特点、测试项目与样品要求、典型应用场景,展示了这些技术的强大应用价值,为相关研究提供了…
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小课堂 | 常做的透射电镜你了解吗?(三)
上期我们了解了球差、色散和像散等会限制电子显微镜的分辨率,那在测试过程中这些问题是如何解决的呢? 透镜的缺陷如何解决? 色差:电子枪发射的电子存在能量发散(电子能量差异),参加…
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小课堂 | 常做的透射电镜你了解吗?(二)
透射电子显微镜(TEM)类似于光学显微镜,不同的是它的光源换成了钨灯丝(或者六硼化镧)发射的电子源,凸透镜片换成了由电磁场形成的电磁透镜。 电磁透镜成像原理 透射电镜以…
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小课堂 | 常做的透射电镜你了解吗?(一)
透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而…
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奥斯瓦尔德熟化:定义、吉布斯-汤姆逊方程与液/固/液/气四类体系的影响机制
说明:奥斯瓦尔德熟化是亚稳态分散体系(如过饱和溶液、乳液、固溶体等)中普遍存在的热力学驱动现象,本文华算科技梳理了奥斯瓦尔德熟化的定义、吉布斯-汤姆逊方程及液固-液液-气固三类体系…
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TEM三种常用成像技术对比:明场像(BF)、暗场像(DF)、高角环形暗场像(HAADF)的核心参数与应用实例
说明:本文华算科技介绍了TEM中明场像(BF)、暗场像(DF)与高角环形暗场像(HAADF)的成像原理,明确三者在衬度来源、分辨率、图像特征上的核心差异,还能了解各自适用的样品类型…
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COF 8大表征总结!XPS、TEM、FTIR、TGA、同步辐射XAS等!
什么是同步辐射XAS 同步辐射XAS(X-ray Absorption Spectroscopy,X射线吸收光谱)是利用同步加速器产生的高强度、高准直性X射线,研究物质对X射线吸收…
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什么是“晶格应变”? 类型、数学描述与中子衍射 / 拉曼光谱等表征手段
说明:本文华算科技系统阐述了晶格应变的基本概念、量化方法与多种先进表征技术,内容涵盖从宏观到微观的应变类型,详细介绍了应变张量的数学描述,并深入探讨了X射线衍射、中子衍射、电子衍射…
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材料表征选型避坑指南:39 种 XRD/TEM/SEM/DFT 等技术优缺点全表
为什么相同成分的材料性能差异悬殊?反应过程中活性位点如何动态变化?电子结构与活性的关联始终模糊不清?本文华算科技系统梳理了39种方式主流表征及理论计算方法(XPS、TEM。SEM、…
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五种电子显微表征技术(SEM, TEM, ESEM, EDS, EBSD)的原理与应用对比
说明:本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、环境扫描电子显微镜(ESEM)、能谱分析(EDS)和电子背散射衍射(EBSD)的工作原理、优势、测试…
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选区电子衍射(SAED)中单晶斑点与多晶环状衍射图的形成原理
说明:本文华算科技详细介绍了TEM选区电子衍射(SAED)中单晶与多晶样品的衍射图差异及其原理。单晶因晶面取向统一,衍射电子朝固定方向,形成离散斑点;多晶因晶粒取向随机,衍射电子朝…
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高熵材料(HEMs)核心特性量化与验证:高熵效应、迟缓扩散效应、鸡尾酒效应、晶格畸变效应
说明:本文华算科技介绍了高熵材料(HEMs)及其核心特性,包括高熵效应、迟缓扩散效应、鸡尾酒效应和晶格畸变效应。通过热力学计算、熵值估算、in situ TEM、XRD、TEM、A…
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界面工程:定义、原理与应用
说明:界面工程作为催化领域的关键技术,通过调控催化剂中金属与载体间的界面结构、化学成键及电子分布,精准优化催化活性、选择性与稳定性。 本文华算科技围绕界面工程展开,系统说明其定义、…
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三维原子探针(3D APT)基本原理、方法及应用
三维原子探针(Atom Probe Tomography,简称 3D APT)是一种先进的显微技术,可在原子尺度实现材料的三维重构与化学元素分析。其工作原理是让离子从针状样品尖端持…
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TEM中的“球差”和“像散”是什么
球差 球差这个词大约起源于哈勃望远镜。球差是电磁透镜的一个缺陷,这个缺陷是由于透镜场不均匀地作用在离轴光线上而引起的。对于电磁透镜,电子离轴越远,被偏折就越厉害,结果导致点状物体折…
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纳米颗粒的团聚与分散
纳米颗粒团聚的原因 纳米颗粒在制备过程中,由于冲击、摩擦及粒径的减小,表面积累了大量的正电荷或负电荷。因颗粒形状各异、极不规则,造成表面电荷在颗粒的拐角及凸起处聚集,凸起之处或…
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纳米颗粒的粒度表征方法
SEM或TEM 扫描电子显微镜或透射电子显微镜直接观察纳米颗粒的形貌,然后进行统计学计量。 2.X射线衍射法 根据衍射图来计算晶体尺寸,可用德拜-谢乐公式: K…
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什么是“尖端放电效应”:定义公式、多尺度测量模拟及催化传质原子操控实践
说明:本文华算科技详细阐述了尖端效应定义、重要公式,并介绍形貌表征、电场/浓度测量、FEA/MD/DFT模拟方法,展示其在高效催化、原子操控、强化传质中的广泛应用。 什么是尖端效应…
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看懂 EELS 谱图:零损失峰、低损失区、芯损失区有何用?
电子能量损失谱(Electron Energy Loss Spectroscopy,EELS)是一种利用电子与样品相互作用后能量损失来分析样品成分、化学状态和结构的显微分析技术。本…
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Image J处理电镜图像——颗粒长度测量和统计
首先,打开一张电镜图片 使用直线工具对准已知比例尺(Scale bar)进行绘制 然后选择Analyze中的Set Scale 然后输入konwn distance和Unit …