TEM
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ZnO基掺杂多孔纳米晶框架研究干货解析
一、核心基础:掺杂改性的核心逻辑与理论支撑 1.1 掺杂改性的核心目的与挑战 胶体纳米晶体在众多应用中发挥关键作用,而阳离子掺杂是优化其性能的核心手段——通过在纳米晶基质中引入掺杂…
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钠离子电池先进材料表征技术
钠离子电池因钠资源丰富、成本低廉,被视为锂离子电池的理想替代方案,近年来受到广泛关注。然而,其能量密度低、循环寿命短、充放电速率慢等问题,严重阻碍了大规模商业化应用。这些性能瓶颈的…
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四大电镜怎么选?TEM/SEM/STEM/Cryo-EM 技术对比与选型指南
说明:本文华算科技介绍了电子显微镜的分类、工作原理、技术特点及选型方法。电子显微镜分为TEM、SEM、STEM和Cryo-EM等。文中对比了各类电镜的核心性能指标,并提出了根据观测…
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氧空位:定义、形成机制、作用及表征方法全解析
说明:本文华算科技介绍了氧空位的定义、形成机制、作用以及表征方法。氧空位是晶体结构中氧原子缺失形成的缺陷,可优化材料电子结构、催化性能、储能性能和光学性质。常用的表征方法包括XPS…
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透射电镜技术选型指南:TEM、HRTEM、STEM的原理差异与适用场景对比
说明:透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)以及扫描透射电子显微镜(STEM)在材料科学、生物学等众多领域应用广泛,其原理和功能各有特点。本文华算科技对三者的…
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电子衍射图谱:单晶、多晶、非晶的区分特征与布拉格方程应用
说明:本文华算科技介绍了电子衍射的原理及其在样品结构分析中的应用。文中详细解释了德布罗意方程和布拉格方程在电子衍射中的作用,并通过圆环直径与晶面间距的关系公式,展示了如何通过电子衍…
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TEM明场/暗场实验攻略:原理、成像特点与联用策略
说明:在透射电镜(TEM)里,明场和暗场就像给材料“拍照片”的两种不同模式;就像拍照时让大部分光线透过物体,明场成像用的是穿过样品的“直射电子束”(透射束),而暗场则是专门“抓拍”…
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原位 TEM 技术及锂离子电池负极材料表征研究进展
一、原位 TEM 技术原理与样品池构型 (一)技术核心原理 透射电子显微镜(TEM)凭借原子级空间分辨率和动态捕捉能力,已成为材料科学研究的核心工具。原位 TEM 技术通过在显微镜…
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先进 TEM 技术在纳米催化材料表征中的核心应用与实操解析
纳米催化材料的性能(活性、稳定性、选择性)与其微观结构(尺寸、成分、相、应变、形貌)密切相关,而先进透射电子显微镜(TEM)技术凭借原子级空间分辨率(0.05 nm)、高能量分辨率…
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定量 EELS 技术解析 MnOₓ/MnOᵧ与 FeOₓ/MnOₓ核壳纳米颗粒的结构特征
双磁性核壳纳米颗粒凭借独特的磁耦合效应,在磁记录、传感器、生物医学等领域具有广阔应用前景。这类材料的性能高度依赖核心与壳层的精确结构(如成分、氧化态、厚度),但传统表征技术面临显著…
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TEM-EELS 技术原理及其在锂离子电池表征中的核心应用
锂离子电池(LIB)作为便携式电子设备与新能源汽车的核心动力源,正朝着更高能量密度、更快充电速率与更长循环寿命的方向发展。要实现这一目标,必须深入解析电池内部的结构演变、电荷转移及…
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精准构建原子异质界面:外延生长、ALD与磁控溅射技术应用
说明:这篇文章华算科技系统介绍了原子异质界面的定义、协同效应及湿化学、物理化学和电化学三大制备方法。通过阅读,您将掌握通过外延生长、ALD、磁控溅射等关键技术精准构建平面、横向和层…
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负球差成像(NCSI)定量 HRTEM 技术及其氧化物材料原子级表征应用
氧化物材料凭借独特的电学、磁学特性,在铁电存储器(FRAM)、高密度动态随机存储器(DRAM)等电子器件中占据核心地位。其宏观性能高度依赖原子尺度的结构细节与缺陷特性,传统表征技术…
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像差校正扫描透射电子显微镜(STEM):技术突破与多材料原子级表征应用
在纳米科学时代,材料的宏观性能越来越依赖于原子尺度的成分细节与结构排布。像差校正技术的问世,使扫描透射电子显微镜(STEM)的空间分辨率迈入亚埃级(sub-Å),结合 Z 衬度成像…
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透射电子显微镜技术在钙钛矿氧化物表征中的创新应用与突破
钙钛矿氧化物(通用化学式\(ABO_3\))凭借丰富的结构复杂性和多功能特性,在铁电存储、高温超导、光催化等领域具有广泛应用前景。透射电子显微镜(TEM)及其相关技术的飞速发展,尤…
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原位及新兴透射电子显微镜技术在催化研究中的应用与突破
催化材料的动态演化过程直接决定其催化性能,而扫描 / 透射电子显微镜(S/TEM)凭借原子尺度的空间分辨率和实时表征能力,已成为解析催化机制的核心工具。本文聚焦 S/TEM 的原位…
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利用透射电子显微镜解析钙钛矿材料的物理与化学:技术与应用进展
钙钛矿氧化物,其通式为ABO₃,是当今最具吸引力的多功能材料体系之一,展现出包括铁电性、磁电性、巨磁阻和高温超导性在内的丰富物理性质。这些特性催生了从非挥发性存储器到高性能光催化剂…
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电子显微镜参数与样品厚度对高角环形暗场成像的影响
高角环形暗场成像(HAADF-STEM)已成为原子尺度材料表征的强大工具,其图像质量直接取决于电子显微镜的参数设置和样品本身的性质。本部分将详细探讨探针收敛角、球差与离焦、探测器角…
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从样品到数据:EBSD测试全流程解析与标定率低的成因探讨
电子背散射衍射(Electron Back Scatter Diffraction, EBSD)是扫描电镜下精准获取样品晶体学信息的核心技术。其通过捕捉背散射电子衍射形成的菊池带花…
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电子显微镜入门(下):透射电镜(TEM)成像逻辑、EDS/EELS 联用技术与典型应用
01 TEM电子信号类型 02 TEM工作原理 透射电镜(TEM)以“电子束穿透-信号筛选-透镜聚焦-图像重构”为核心逻辑,凭借纳米级甚至原子级的超高分辨率,实现对样品…