EELS

说明：XAS技术能够提供材料表面和体相的微观结构信息，对研究材料的元素价态、轨道电子自旋态和轨道杂化等特性具有重要意义。本文介绍了同步辐射软X射线吸收谱（sXAS）的技术原理、束线…

说明：电子能量损失谱，简称 EELS，是透射电子显微镜（TEM）中使用的强大分析技术，具有高灵敏度、纳米级分辨率和丰富信息获取能力，广泛应用于材料科学和纳米技术领域。本文主要介绍了…

说明：球差校正透射电镜（TEM）是解析纳米晶体结构的强大工具。其通过电子衍射技术结合布拉格定律和结构因子分析，能够确定晶体结构类型并识别消光现象。 STEM成像（如HAADF、AB…