EELS
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看懂 EELS 谱图：零损失峰、低损失区、芯损失区有何用？
电子能量损失谱（Electron Energy Loss Spectroscopy，EELS）是一种利用电子与样品相互作用后能量损失来分析样品成分、化学状态和结构的显微分析技术。本…
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超实用的电子能量损失谱（EELS）干货，赶紧收好！
1 引言随着纳米科学技术的发展与进步，科学家们对固体物质的原子层面的理解更加迫切，这大大促进了具有高空间分辨率的衍射和光谱学的研究发展。 其中，作为材料表面形貌分析必不可少的测试手…
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为什么要用球差电镜？你又知道啦！？
球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，无论是光学透镜还是电磁透镜，其透镜系统都无法做到完美。在光学透镜中，可通过将凸透镜…
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一文了解“球差校正透射电镜”！
本文全面介绍了球差校正透射电子显微镜（AC-TEM/AC-STEM）的原理与应用，涵盖其成像原理、信号来源、成像种类以及在原子级成像和元素分析中的独特优势，助力材料科学与纳米技术研…
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文献案例分享-同步辐射X射线技术研究电池材料
今天来和大家分享弗吉尼亚理工大学Feng Lin教授和劳伦斯伯克利国家实验室Marca Doeff博士等人在Chemical Reviews上发表的一篇综述。文章题目为Sy…
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论文中关于TEM常用的英文缩写总结
前言 英文缩写词是一个单词或词组的简写形式。 特定的缩写词使得词语更加易懂。 缩写词不仅有效缩短了著作的长度，有时还能显出作者精通该领域。 来看看你对TEM领域的缩写了解多少 01…
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扫描透射电子显微镜（STEM）之基本原理与应用
1、引言自古以来，人类从未停止过对微观世界的探索，采用波长更短的电子束为光源的电子显微仪器打破了可见光的衍射极限，为人类打开了观察纳米世界的大门，使人们看到了在纳米尺度上研究单一原…
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FIB与TEM技术强强联合——解锁材料/地质科研纳米级分析新可能
总结：本文详细介绍了聚焦离子束（FIB）与透射电镜（TEM）结合的技术体系，包括TEM的核心分析能力、FIB技术的发展简史与基本原理，重点阐述了FIB在TEM样品制备中的关键作用，…
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TEM经典论文解读（1970s）：电子能量损失谱（EELS）及其他电镜技术的发展
总结：本文以1970年代透射电子显微镜TEM领域的经典论文为核心，重点解读了电子能量损失谱EELS技术的原理（如零损耗峰、等离子峰、电离边的特征与应用）、定量分析方法（元素浓度计算…
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扫描透射电镜（STEM）如何实现单原子成像，推动电子显微学革命
总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的发展背景、早期技术探索，重点阐述了Albert Crewe在STEM领域的开创性贡献——包括提出使用场发射电子枪（FEG）解决电子源亮度不…
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扫描透射电镜（STEM）：商业历程与技术进步，从早期设计到原子分辨率突破
总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的商业发展历程与关键技术进步，重点阐述了像差校正技术的突破如何推动 STEM分辨率迈向亚埃级，还提及低电压STEM在二维材料表征中的应用，及…
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电镜技术在陶瓷晶界表征上的应用：理论知识解析、样品制备和数据分析要点
总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…
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电子能量损失谱（EELS）的技术原理及在材料领域的应用
说明：这篇文章由华算科技主要介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的基本原理及其在材料微观分析领域的重要应用。EELS是一种基于透射电子显微镜（TEM）的先进表征技术，通过测量高能电…
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如何表征选择性还原？
说明：本文主要介绍同步辐射吸收谱与XMCD协同揭示氧化物中Co的选择性还原及磁矩演变机制。 01 什么是同步辐射吸收谱 同步辐射吸收谱的本质是利用同步辐射光源的X射线与物质相互作用…
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什么是同步辐射软X射线？
说明：XAS技术能够提供材料表面和体相的微观结构信息，对研究材料的元素价态、轨道电子自旋态和轨道杂化等特性具有重要意义。本文介绍了同步辐射软X射线吸收谱（sXAS）的技术原理、束线…
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什么是电子能量损失谱EELS？
说明：电子能量损失谱，简称 EELS，是透射电子显微镜（TEM）中使用的强大分析技术，具有高灵敏度、纳米级分辨率和丰富信息获取能力，广泛应用于材料科学和纳米技术领域。本文主要介绍了…
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球差电镜如何表征晶体结构？
说明：球差校正透射电镜（TEM）是解析纳米晶体结构的强大工具。其通过电子衍射技术结合布拉格定律和结构因子分析，能够确定晶体结构类型并识别消光现象。 STEM成像（如HAADF、AB…
