EELS
-
FIB与TEM技术强强联合——解锁材料/地质科研纳米级分析新可能
总结：本文详细介绍了聚焦离子束（FIB）与透射电镜（TEM）结合的技术体系，包括TEM的核心分析能力、FIB技术的发展简史与基本原理，重点阐述了FIB在TEM样品制备中的关键作用，…
-
TEM经典论文解读（1970s）：电子能量损失谱（EELS）及其他电镜技术的发展
总结：本文以1970年代透射电子显微镜TEM领域的经典论文为核心，重点解读了电子能量损失谱EELS技术的原理（如零损耗峰、等离子峰、电离边的特征与应用）、定量分析方法（元素浓度计算…
-
扫描透射电镜（STEM）如何实现单原子成像，推动电子显微学革命
总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的发展背景、早期技术探索，重点阐述了Albert Crewe在STEM领域的开创性贡献——包括提出使用场发射电子枪（FEG）解决电子源亮度不…
-
扫描透射电镜（STEM）：商业历程与技术进步，从早期设计到原子分辨率突破
总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的商业发展历程与关键技术进步，重点阐述了像差校正技术的突破如何推动 STEM分辨率迈向亚埃级，还提及低电压STEM在二维材料表征中的应用，及…
-
电镜技术在陶瓷晶界表征上的应用：理论知识解析、样品制备和数据分析要点
总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…
-
电子能量损失谱（EELS）的技术原理及在材料领域的应用
说明：这篇文章由华算科技主要介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的基本原理及其在材料微观分析领域的重要应用。EELS是一种基于透射电子显微镜（TEM）的先进表征技术，通过测量高能电…
-
如何表征选择性还原？
说明：本文主要介绍同步辐射吸收谱与XMCD协同揭示氧化物中Co的选择性还原及磁矩演变机制。 01 什么是同步辐射吸收谱 同步辐射吸收谱的本质是利用同步辐射光源的X射线与物质相互作用…
-
什么是同步辐射软X射线？
说明：XAS技术能够提供材料表面和体相的微观结构信息，对研究材料的元素价态、轨道电子自旋态和轨道杂化等特性具有重要意义。本文介绍了同步辐射软X射线吸收谱（sXAS）的技术原理、束线…
-
什么是电子能量损失谱EELS？
说明：电子能量损失谱，简称 EELS，是透射电子显微镜（TEM）中使用的强大分析技术，具有高灵敏度、纳米级分辨率和丰富信息获取能力，广泛应用于材料科学和纳米技术领域。本文主要介绍了…
-
球差电镜如何表征晶体结构？
说明：球差校正透射电镜（TEM）是解析纳米晶体结构的强大工具。其通过电子衍射技术结合布拉格定律和结构因子分析，能够确定晶体结构类型并识别消光现象。 STEM成像（如HAADF、AB…
