成像理论

在透射电子显微镜（TEM）观察过程中，我们常常看能观察到大量位错线（图1），但如何准确区分其类型（刃型位错、螺型位错和混合位错）呢？本文将从分析原理、拍摄参数（g矢量）的选择与位错…

一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些？ 一般材料在做TEM检测时关注：各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等，特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构：各个相晶粒的尺寸、形状分…

1、引言自古以来，人类从未停止过对微观世界的探索，采用波长更短的电子束为光源的电子显微仪器打破了可见光的衍射极限，为人类打开了观察纳米世界的大门，使人们看到了在纳米尺度上研究单一原…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）作为现代材料科学和生命科学研究中不可或缺的工具，在纳米科技领域发挥着关键作用。这种强大的…

电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中，两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向…

原理 透射电镜主要基于电子束与超薄样品相互作用的原理。其利用电子加速枪产生一束高能电子束，经过一系列电磁透镜聚焦和准直后，照射到超薄样品上。电子束穿过样品后，样品中不同区域的原子对…

总结：本文全面介绍了透射电镜TEM的核心知识体系，包括发展历程、基本原理、核心构造、成像机制与衬度类型，详细阐述了选区电子衍射技术及针对粉末、块状、高分子等不同类型样品的制备方法，…

总结：本文详细介绍了两种主流电子显微镜技术——透射电子显微镜TEM与扫描电子显微镜SEM的基础理论、工作原理、核心组件，系统对比了两者在成像方式、样品要求、图像特征、加速电压及应用…

总结：本文围绕电极材料的透射电子显微镜TEM表征展开，详细介绍了TEM的核心作用、工作原理、结构组成与分类，对比了SEM与TEM的异同点，重点提供了基于Digital Microg…