元素分析
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基于 X 射线吸收精细结构光谱的催化反应动力学研究 —— 底物视角的创新探索
一、研究背景与核心科学问题 催化反应机制研究的核心目标是建立催化剂活性位点结构与反应物转化之间的直接关联。近年来,原位 /operando 表征技术的广泛应用,使得在反应条件下监测…
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XAS 技术在过渡金属酞菁与金属基底界面电荷转移研究中的核心应用
一、研究背景与 XAS 技术适配性 过渡金属酞菁(TMPcs,TM=Mn、Fe、Co)作为典型的平面 π- 共轭有机半导体材料,凭借独特的光学、电子及磁学性质,在发光二极管、场效应…
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XAS 技术在固氮酶结构与功能研究中的核心应用与机制解析
一、XAS 技术基础与固氮酶研究适配性 X 射线吸收光谱(XAS)是生物无机化学领域中表征金属蛋白活性中心结构与电子性质的核心技术,凭借元素特异性强、可在生理环境下原位表征的优势,…
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XAS 技术的核心原理、方法演进与跨领域应用
一、XAS 技术的基础概念与核心原理 X 射线吸收光谱(XAS)是一种基于 X 射线与物质相互作用的原子级结构表征技术,通过分析 X 射线吸收系数随光子能量的变化,获取目标元素的电…
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XAS基础知识
X射线吸收光谱(XAS)作为一种强大的表征技术,在材料科学、化学、物理学、生物学及环境科学等众多领域中扮演着不可或缺的角色,用于深入探测材料的电子结构和局部原子几何结构。该技术的核…
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X 射线吸收光谱(XAS)在异相电催化剂活性位点表征中的应用干货解析
随着异相电催化剂设计迈入 “原子级精准调控” 时代,基于同步辐射的 X 射线吸收光谱(XAS)已成为电催化领域不可或缺的表征工具。对于刚进入科研领域的研究生、博士生而言,掌握 XA…
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XAS 技术在能源材料研究中的核心应用与技术解析
X 射线吸收光谱(XAS)作为一种原子级结构表征技术,凭借元素特异性强、不依赖样品结晶度、可在复杂环境下工作等优势,已成为能源材料研究的核心工具。无论是电催化 CO₂还原(CO₂R…
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XAS 的核心作用:从结构解析到机制揭示,赋能多领域科学研究
X 射线吸收光谱(XAS)作为一种元素特异性表征技术,凭借其独特的原子级探测能力,已成为物理、化学、生物、材料科学等领域不可或缺的研究工具。它能够穿透样品表层,精准捕捉目标元素的电…
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同步辐射 X 射线技术在可充电电池研究中的核心应用与前沿进展
一、引言 随着便携式电子设备、电动汽车及大规模储能等领域的快速发展,可充电电池(尤其是锂 / 钠离子电池)对高能量密度、长循环寿命、高安全性及低成本的需求日益迫切。电池性能的核心取…
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定量 EELS 技术解析 MnOₓ/MnOᵧ与 FeOₓ/MnOₓ核壳纳米颗粒的结构特征
双磁性核壳纳米颗粒凭借独特的磁耦合效应,在磁记录、传感器、生物医学等领域具有广阔应用前景。这类材料的性能高度依赖核心与壳层的精确结构(如成分、氧化态、厚度),但传统表征技术面临显著…
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TEM-EELS 技术原理及其在锂离子电池表征中的核心应用
锂离子电池(LIB)作为便携式电子设备与新能源汽车的核心动力源,正朝着更高能量密度、更快充电速率与更长循环寿命的方向发展。要实现这一目标,必须深入解析电池内部的结构演变、电荷转移及…
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平面太局限?让XPS数据“立”起来——Origin 3D绘图详解
传统2D XPS堆叠图在展示多组数据时,常因谱线重叠而难以清晰分辨细节,限制了深度分析。为此,我们可借助Origin软件绘制3D XPS瀑布图。它通过引入三维立体视角,将每条谱…
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电子显微镜入门(下):透射电镜(TEM)成像逻辑、EDS/EELS 联用技术与典型应用
01 TEM电子信号类型 02 TEM工作原理 透射电镜(TEM)以“电子束穿透-信号筛选-透镜聚焦-图像重构”为核心逻辑,凭借纳米级甚至原子级的超高分辨率,实现对样品…
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俄歇电子能谱(AES):原理、优势及多领域应用全解析
俄歇电子能谱(Auger Electron Spectroscopy,AES)分析是一种表面分析领域的核心技术,其基本原理是:通过探测俄歇跃迁产生特征电子,实现固体表面的元素定性、…
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如何分析XPS?
说明:本文系统介绍 XPS 的定义、核心公式、典型应用场景、优势和局限性、分析方法以及它如何与其他表征技术(如XRD、HRTEM/STEM、EPR、LSV/EIS、Raman、XA…
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XPS结合能左移、右移的原因?
说明:X射线光电子能谱(XPS)已成为材料科学领域不可或缺的表面分析技术。 本文将从XPS的核心定义出发,探讨其图谱解读,并揭示XPS结合能左移、右移的原因。 一、XPS是什么? …
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价态变化,XPS峰往哪移?
说明:X 射线光电子能谱(XPS)是一种基于光电效应的表面分析技术,广泛应用于材料科学等多个领域。本文介绍了XPS的基本原理、主要应用,说明了价态变化时XPS峰位移的规律。 一、X…
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SEM 成像与成分分析全解析:二次电子 (SE)、背散射电子 (BSE) 及 EDS 技术详解
说明:本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜(SEM)中二次电子(SE)像、背散射电子(BSE)像和能量色散光谱(EDS)数据的信号原理、图像特点及解读方法。详细阐述了SE像用于表征…
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样品中 CHNOS 含量的检测——有机元素分析仪(EA)
目前,元素的一般分析方法有化学法、光谱法、能谱法等。有机元素分析仪作为一种实验室常规仪器,能够同时定量分析测定有机的固体、高挥发性和敏感性物质中 C、H、N、S 的含量,此外还可以…
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原位测试之原位XPS、原位XRD
反应相变机理及使用环境下结构演化规律是材料构效关系研究的重要内容,目前常用的离位表征手段,往往不能反映真实结构变化过程(尤其是在电池材料的表征中,由于不同极片间的物理差异和拆装…