元素分析

  传统2D XPS堆叠图在展示多组数据时，常因谱线重叠而难以清晰分辨细节，限制了深度分析。为此，我们可借助Origin软件绘制3D XPS瀑布图。它通过引入三维立体视角，将每条谱…

01 TEM电子信号类型     02 TEM工作原理   透射电镜（TEM）以“电子束穿透-信号筛选-透镜聚焦-图像重构”为核心逻辑，凭借纳米级甚至原子级的超高分辨率，实现对样品…

俄歇电子能谱（Auger Electron Spectroscopy，AES）分析是一种表面分析领域的核心技术，其基本原理是：通过探测俄歇跃迁产生特征电子，实现固体表面的元素定性、…

说明：本文系统介绍 XPS 的定义、核心公式、典型应用场景、优势和局限性、分析方法以及它如何与其他表征技术（如XRD、HRTEM/STEM、EPR、LSV/EIS、Raman、XA…

说明：X射线光电子能谱（XPS）已成为材料科学领域不可或缺的表面分析技术。 本文将从XPS的核心定义出发，探讨其图谱解读，并揭示XPS结合能左移、右移的原因。 一、XPS是什么？ …

说明：X 射线光电子能谱（XPS）是一种基于光电效应的表面分析技术，广泛应用于材料科学等多个领域。本文介绍了XPS的基本原理、主要应用，说明了价态变化时XPS峰位移的规律。 一、X…

说明：本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜（SEM）中二次电子（SE）像、背散射电子（BSE）像和能量色散光谱（EDS）数据的信号原理、图像特点及解读方法。详细阐述了SE像用于表征…

目前，元素的一般分析方法有化学法、光谱法、能谱法等。有机元素分析仪作为一种实验室常规仪器，能够同时定量分析测定有机的固体、高挥发性和敏感性物质中 C、H、N、S 的含量，此外还可以…

  反应相变机理及使用环境下结构演化规律是材料构效关系研究的重要内容，目前常用的离位表征手段，往往不能反映真实结构变化过程（尤其是在电池材料的表征中，由于不同极片间的物理差异和拆装…

  01   XPS 的基本原理   一定能量的 X 光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：　   hv=Ek+…

    ICP-OES 的发展历史       在 19 世纪初，Brewster（布鲁斯特）等人从酒精灯的火焰中观察到了原子发射现象，并认识到原子发射光谱可以替代“繁琐的化学分析…

MS（Inductively coupled plasma-Mass  Spectrometry）全称是电感耦合等离子体-质谱法，它是一种将 ICP 技术和质谱技术结合在一起的分析…

目前 XPS 是应用非常广泛的的一种表面分析技术，其原理基于光电效应，当一束特定能量的X射线照射到固体样品上时，便可将原子中的内层电子激发出来，激发出的光电子动能被能量检测器检测分…

  什么是离子色谱 1   离子色谱，简称 IC（Ion Chromatography），是分析阴离子和阳离子的一种液相色谱。作为近 20 年来发展最快的技术之一，离子色谱的应用已…

  X 射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一，各种与 X 射线荧光光谱相关的分析技术，如…

  X 射线荧光光谱仪（XRF）是一种可以对多种元素进行快速、非破坏性测定的仪器，可以检测从铍（Be）到铀（U）之间的元素，广泛应用于地质、冶金、环境、石化、商检和考古等众多领域。…

  飞行时间二次离子质谱仪现已成长为一项强大的微观表面分析技术，其应用范围超越了传统动态 SIMS 的局限。此技术的显著优势包括：能够同步检测几乎无质量限制范围内的多种离子；具备出…

  AAS（原子吸收光谱）、AES（原子发射光谱）、AFS（原子荧光光谱）是三种常见的光谱分析技术，在食品、化工、环境等领域具有广泛的用途，由于其原理相近，结构类似，很多初学者对于…

三维原子探针（Atom Probe Tomography，简称 3D APT）是一种先进的显微技术，可在原子尺度实现材料的三维重构与化学元素分析。其工作原理是让离子从针状样品尖端持…

电子能量损失谱（Electron Energy Loss Spectroscopy，EELS）是一种利用电子与样品相互作用后能量损失来分析样品成分、化学状态和结构的显微分析技术。本…