形貌表征

说明：本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜（SEM）中二次电子（SE）像、背散射电子（BSE）像和能量色散光谱（EDS）数据的信号原理、图像特点及解读方法。详细阐述了SE像用于表征…

在透射电子显微镜（TEM）分析中，形貌图是观察材料微观结构（晶体形貌、缺陷分析、相分布情况等）的核心手段。TEM形貌成像的本质是利用电子束穿过样品后，因样品不同区域的厚度、原子序数…

聚焦离子束（Focused Ion Beam，FIB）加工是一种基于高能离子束与物质相互作用的精密微纳加工技术，通过将离子束聚焦为纳米级束斑，利用离子束轰击样品表面，实现材料的刻蚀…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）观察粉末样品是纳米材料研究的重要手段之一。本文介绍了TEM观察粉末样品的两种方法、常用的粉…

原位透射电子显微镜（In-situ TEM）技术通过在透射电镜中集成特殊样品台或反应池，使研究人员能在实时、动态条件下观察材料在外界刺激（如加热、拉伸、电场等）下的结构演变，已成为…

    孪晶及其衍射斑     对铜或镁合金有了解的朋友们想必对下面图片里的这种形貌并不陌生： 图片中展示的是很典型的孪晶形貌。所谓孪晶，是指两个晶体(或一个晶体的两部分)沿一个公…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们  孪生变形 与立方晶格结构金属以位错滑移机制实现塑性变形不同，密排六方的晶格结构需要耦合多种变形机制才能实现任意方向上的塑性变形； 由于…

在透射电子显微镜（TEM）观察过程中，我们常常看能观察到大量位错线（图1），但如何准确区分其类型（刃型位错、螺型位错和混合位错）呢？本文将从分析原理、拍摄参数（g矢量）的选择与位错…

TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜（TEM）的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度（衬度：即不同区域的亮暗差别）成像，由衍射衬度原理形成的电子图…

  -专-业-   -稳-定-   -高-效- —— 简介 —— 　 透射电子显微镜（简称透射电镜，TEM）是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜，它用聚焦电子束作为照明光源，使用对电…

一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些？ 一般材料在做TEM检测时关注：各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等，特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构：各个相晶粒的尺寸、形状分…

你测量的 实际需要测量的结果 二图片的差别：测量结果是没有单位， 也就意味着图片测量数据是无效的。 那么 ，如何实现“图片测量”自带单位？————标尺校准如果是DM文件，格式是dm…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 ● TEM中判断位错类型的三个问题 1.TEM判定位错类型原理是什么？ 2.如何选择合适的g矢量？ 3.怎么结合TEM数据来判断？ 问题…

1、引言自古以来，人类从未停止过对微观世界的探索，采用波长更短的电子束为光源的电子显微仪器打破了可见光的衍射极限，为人类打开了观察纳米世界的大门，使人们看到了在纳米尺度上研究单一原…

1. 生物样本的送检类型   用于TEM观察的生物样本，主要为3种类型：组织、离心团和微粒悬液。 其中，动物的肝、肾、肠和植物叶片、根、茎等，就属于组织类样本。组织样本的特点是结构…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是研究金属材料微观结构的核心工具之一，它凭借极高的分辨率（可达亚埃级别）和强大的综合分析…

一、项目介绍生物透射电镜是观察生物细胞样品内部形态的重要工具，其电压在80-120kv可以降低生物样品因高能电子束辐射而损伤的影响，同时依赖于生物样品制备技术的发展，如超薄切片技术…

说明：本文围绕透射电子显微镜（TEM）的检测能力展开，详细介绍了其在材料微观结构表征、晶体结构与晶体学特性分析、成分与化学状态分析、动态过程与原位表征及特殊样品表征五大核心领域的具…

原理 透射电镜主要基于电子束与超薄样品相互作用的原理。其利用电子加速枪产生一束高能电子束，经过一系列电磁透镜聚焦和准直后，照射到超薄样品上。电子束穿过样品后，样品中不同区域的原子对…

总结：本文围绕半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察展开，详细介绍了半导体异质结构中应变诱导缺陷的产生机制，系统阐述了透射电子显微镜TEM的多种成像技术——双束条件TBC成像…