SEM

钠离子电池因钠资源丰富、成本低廉，被视为锂离子电池的理想替代方案，近年来受到广泛关注。然而，其能量密度低、循环寿命短、充放电速率慢等问题，严重阻碍了大规模商业化应用。这些性能瓶颈的…

SEM尺寸统计可以‌测量材料参数，优化材料制备工艺，提高其质量和性能。 手动标SEM尺寸 = 费时间 + 算错数 + 返工改… 用对软件：一键测量 + 自动统计 = 发…

说明：本文华算科技介绍了电子显微镜的分类、工作原理、技术特点及选型方法。电子显微镜分为TEM、SEM、STEM和Cryo-EM等。文中对比了各类电镜的核心性能指标，并提出了根据观测…

聚焦离子束 – 扫描电子显微镜（FIB-SEM）三维断层扫描技术，凭借 “逐层铣削 – 同步成像 – 三维重建” 的核心流程，突破了传统表征技术…

扫描电子显微镜（SEM）凭借纳米级分辨率、大景深及多功能联用特性，已成为矿物学研究、矿产资源勘探与加工等领域的核心表征工具。相较于传统光学显微镜（OM）1000 倍的最大放大倍数，…

电子背散射衍射（Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是扫描电镜下精准获取样品晶体学信息的核心技术。其通过捕捉背散射电子衍射形成的菊池带花…

说明：本文华算科技介绍了球差电镜（AC-TEM）的原理和优势。球差电镜通过加装球差校正器，有效校正了普通电子显微镜的球面像差。它能在原子级别清晰分辨材料结构、降低成像伪影，并精准表…

  面分布图 面分布图作为展示EBSD数据最常用的手段，EBSD技术通过扫描样品，采集晶体学数据，其呈现形式为面分布图，除了上篇推文提到的晶粒面分布图和织构组分面分布图以外，还包含…

电子背散射衍射（Electron Backscatter Diffraction，EBSD）技术是解析材料微观结构与宏观性能的关键表征技术，其能提供材料微观尺度下的晶体结构、取向、…

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）与透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）因具有…

电子背散射衍射（Electron Backscatter Diffraction，EBSD）技术提供样品表面的晶体学信息。然而，在研究晶粒结构、三维晶粒尺寸与界面特性，往往还需要从…

说明：本文华算科技介绍了包括SEM、AFM、TEM、XRD、比表面积分析、XPS、电化学性能表征如CV、GCD、EIS以及原位XRD/SEM/TEM/Raman/FTIR。这些技术…

说明：本文详细介绍了五种主流电镜测试技术（SEM、TEM、ESEM、EDS、EBSD）的原理、特点、测试项目与样品要求、典型应用场景，展示了这些技术的强大应用价值，为相关研究提供了…

说明：本文华算科技系统阐述了晶格应变的基本概念、量化方法与多种先进表征技术，内容涵盖从宏观到微观的应变类型，详细介绍了应变张量的数学描述，并深入探讨了X射线衍射、中子衍射、电子衍射…

说明：本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、环境扫描电子显微镜（ESEM）、能谱分析（EDS）和电子背散射衍射（EBSD）的工作原理、优势、测试…

  纳米颗粒团聚的原因 纳米颗粒在制备过程中，由于冲击、摩擦及粒径的减小，表面积累了大量的正电荷或负电荷。因颗粒形状各异、极不规则，造成表面电荷在颗粒的拐角及凸起处聚集，凸起之处或…

  SEM或TEM   扫描电子显微镜或透射电子显微镜直接观察纳米颗粒的形貌，然后进行统计学计量。     2.X射线衍射法 根据衍射图来计算晶体尺寸，可用德拜-谢乐公式：   K…

说明：本文华算科技详细阐述了尖端效应定义、重要公式，并介绍形貌表征、电场/浓度测量、FEA/MD/DFT模拟方法，展示其在高效催化、原子操控、强化传质中的广泛应用。 什么是尖端效应…

能谱仪（Energy Dispersive Spectrometer，EDS）全称为能量色散X射线光谱仪，是一种通过检测物质受激发后产生的特征 X 射线能量，来快速分析材料元素组成…

  样品前处理 1. 清洁样品 目的：去除样品表面的杂质、污染物（如灰尘、油污、残留的化学试剂等），防止其掩盖样品真实的微观结构，影响图像质量。 方法：对于固体块状样品，可使用无尘…