SEM

电子背散射衍射（Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是扫描电镜下精准获取样品晶体学信息的核心技术。其通过捕捉背散射电子衍射形成的菊池带花…

说明：本文华算科技介绍了球差电镜（AC-TEM）的原理和优势。球差电镜通过加装球差校正器，有效校正了普通电子显微镜的球面像差。它能在原子级别清晰分辨材料结构、降低成像伪影，并精准表…

  面分布图 面分布图作为展示EBSD数据最常用的手段，EBSD技术通过扫描样品，采集晶体学数据，其呈现形式为面分布图，除了上篇推文提到的晶粒面分布图和织构组分面分布图以外，还包含…

电子背散射衍射（Electron Backscatter Diffraction，EBSD）技术是解析材料微观结构与宏观性能的关键表征技术，其能提供材料微观尺度下的晶体结构、取向、…

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）与透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）因具有…

电子背散射衍射（Electron Backscatter Diffraction，EBSD）技术提供样品表面的晶体学信息。然而，在研究晶粒结构、三维晶粒尺寸与界面特性，往往还需要从…

说明：本文华算科技介绍了包括SEM、AFM、TEM、XRD、比表面积分析、XPS、电化学性能表征如CV、GCD、EIS以及原位XRD/SEM/TEM/Raman/FTIR。这些技术…

说明：本文详细介绍了五种主流电镜测试技术（SEM、TEM、ESEM、EDS、EBSD）的原理、特点、测试项目与样品要求、典型应用场景，展示了这些技术的强大应用价值，为相关研究提供了…

说明：本文华算科技系统阐述了晶格应变的基本概念、量化方法与多种先进表征技术，内容涵盖从宏观到微观的应变类型，详细介绍了应变张量的数学描述，并深入探讨了X射线衍射、中子衍射、电子衍射…

说明：本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、环境扫描电子显微镜（ESEM）、能谱分析（EDS）和电子背散射衍射（EBSD）的工作原理、优势、测试…

  纳米颗粒团聚的原因 纳米颗粒在制备过程中，由于冲击、摩擦及粒径的减小，表面积累了大量的正电荷或负电荷。因颗粒形状各异、极不规则，造成表面电荷在颗粒的拐角及凸起处聚集，凸起之处或…

  SEM或TEM   扫描电子显微镜或透射电子显微镜直接观察纳米颗粒的形貌，然后进行统计学计量。     2.X射线衍射法 根据衍射图来计算晶体尺寸，可用德拜-谢乐公式：   K…

说明：本文华算科技详细阐述了尖端效应定义、重要公式，并介绍形貌表征、电场/浓度测量、FEA/MD/DFT模拟方法，展示其在高效催化、原子操控、强化传质中的广泛应用。 什么是尖端效应…

能谱仪（Energy Dispersive Spectrometer，EDS）全称为能量色散X射线光谱仪，是一种通过检测物质受激发后产生的特征 X 射线能量，来快速分析材料元素组成…

  样品前处理 1. 清洁样品 目的：去除样品表面的杂质、污染物（如灰尘、油污、残留的化学试剂等），防止其掩盖样品真实的微观结构，影响图像质量。 方法：对于固体块状样品，可使用无尘…

说明：本文华算科技将从原位实验和同步辐射XAS出发，深入解析XANES、EXAFS的具体应用，以及原位XAS如何与SEM、EDS、XPS、原位拉曼协同作用，分析配位结构，追踪动态循…

说明：本文华算科技介绍了氧空位的作用及多种表征方法。氧空位可调控电子结构、增加活性位点、改变反应路径，提升催化性能。文中详细阐述了EPR、XPS、TEM、SEM、原位拉曼光谱、原位…

说明：本文档系统介绍了扫描电子显微镜（SEM）的原理、结构、发展历程及其应用，涵盖电子枪类型、信号类型、台式与落地式设备对比等内容。 SEM结构和原理 扫描电子显微镜（SEM）由四…

01  从名字入手：什么是 X 射线？什么是光电子能谱？ 我们先拆开来看名字。 第一，X射线是什么？X射线其实就是高能量的电磁波，能量比可见光要高很多。 它最早是伦琴在1895年发…

说明：这篇文章华算科技介绍了催化剂表征的重要性，包括揭示结构与性能关联、为设计催化剂提供依据等，还详细说明了比表面积分析、XRD、XPS等常用表征技术，阅读后能了解如何通过表征理解…