面分布图
面分布图作为展示EBSD数据最常用的手段，EBSD技术通过扫描样品，采集晶体学数据，其呈现形式为面分布图，除了上篇推文提到的晶粒面分布图和织构组分面分布图以外，还包含以下几类常见的面分布图：
花样质量分布图（Pattern Quality，PQ）：用于量化EBSD衍射花样的“清晰程度”的参数，本质是对衍射带的锐度、对比度及完整性的参数（衍射带越清晰、对比度越高，花样质量越高，对应图中区域颜色越亮，反之越暗）。因此，其在样品分析前、中、后过程中作为样品质量检测工具。
图1 Ti-Al合金的花样质量分布图。衍射花样质量较高的区域，对应图中区域较亮，反之较暗
相分布图：可直观呈现材料微观区域内“不同物相空间分布”。将原本肉眼无法区分的多相结构转换为清晰的彩色分区，让研究者快速掌握物相种类、占比与分布规律。
图2 某高熵合金的相分布图
（DOI：10.1016/j.jmst.2024.10.008）
取向分布图：直观呈现材料内部晶粒的“晶体学取向空间分布”的核心工具，将晶粒的晶体学取向转化为可视化的彩色图谱，让研究者快速掌握晶粒取向的全局分布规律、局部差异及与微观组织的关联性。
图3 某高熵合金的IPF图
（DOI: 10.1016/j.matchar.2025.114812）
图4 高熵合金的晶内平均取向差（KAM）图。用于表征晶粒内部局部取向差异（DOI：10.1016/j.jmst.2024.10.008）
晶界分析
在EBSD分析体系中，晶界分析是揭示材料微观结构与宏观性能关联的核心环节。晶界作为相邻晶粒的界面区域，其类型、分布与特征可直接影响材料的强度、韧性、耐腐蚀性等关键性能。EBSD凭借高空间分辨率与精确的取向分析能力，能从微观尺度量化晶界信息。晶界分析展示的数据类型两类：晶界统计直方图和晶界空间分布图。
图5 某高熵合金的晶界统计直方图
（DOI：10.1007/s12598-024-03154-1）
图6 某Ti/Al异种合金的晶界空间分布图。小角度晶界（2-15°，红色），大角度晶界（＞15°，红色）
（DOI：10.1016/j.mtcomm.2024.111395）
以上数据部分来自于Oxford Instrument
本文源自微信公众号：中材新材料
原文标题：《EBSD 数据解读入门（下）：面分布图与晶界分析》
原文链接：https://mp.weixin.qq.com/s/pZTsAeH_WKg_s18JGEDixQ
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