纳米颗粒的粒度表征方法

 

  1. SEMTEM

     

    扫描电子显微镜或透射电子显微镜直接观察纳米颗粒的形貌,然后进行统计学计量。

    纳米颗粒的粒度表征方法

 

 

2.X射线衍射法

根据衍射图来计算晶体尺寸,可用德拜-谢乐公式:

纳米颗粒的粒度表征方法

 

K为Scherrer常数,若B为衍射峰的半峰高宽,则K=0.89;若B为衍射峰的积分高宽,则K=1;
D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度(Å)
B为实测样品衍射峰半高宽度,计算的过程中,需转化为弧度(rad)
θ为布拉格衍射角,单位为角度(in degrees)
γ为X射线波长,对于Cu kα来说,一般为1.54056 Å 
通过XRD来读取衍射角、半峰宽来计算D

3.激光粒度分析法

当激光照射到颗粒上时,不同粒度的颗粒会产生不同的光散射,小粒子在宽角度散射光,大颗粒在小角度范围散射光。通过分析颗粒产生散射或衍射的现象来测试粒度。

在溶液体系中,纳米粒子会发生布朗运动,小粒子运动的快,大粒子运动的慢。散射光的相位叠加,将引起光亮区域和黑暗区域的光强增加和减少,所以,得到的光散射强度是波动的。激光粒度分析法通过激光照射粒子,分析散射光的光强波动,然后计算得到纳米粒子的粒径。需要注意的是激光粒度分析法测得的是在水中的水力直径,而不是实际直径。其数据相对于电镜的数据可能会偏大一些。而且,其计算的模型是理论构建的公式,有时候需要结合SEM或TEM来计算粒径。常见的仪器是Zeta电位和粒度分析仪

纳米颗粒的粒度表征方法

纳米颗粒的粒度表征方法

 

 

 

本文源自微信公众号:材料er

原文标题:《纳米颗粒的粒度表征方法》

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