测试表征技术专区
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一文说清XANES与EXAFS！
说明：本文华算科技介绍了XAFS及其XANES与EXAFS的原理、能量范围及应用，还解读相关论文中二者在催化剂研究的作用。读者可系统学习到XANES与EXAFS的核心知识，了解二者…
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Artemis如何拟合样品？
说明：本文接续上一篇：XAFS数据处理新手教程-Artemis，Artemis对于样品的拟合需要更多的尝试，上文讲述对于标准样品拟合得到振幅衰减因子S02=0.87，当我们得到振幅…
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XAFS数据处理新手教程-Artemis！
说明：Artemis是用来对EXAFS数据进行拟合的常用软件，本文华算科技介绍了从Athena导出数据后开始，到拟合结束的全部过程，通过对数据拟合我们可以得到配位数N、振幅衰减因子…
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Athena如何处理xafs数据？
说明：Athena对XAFS数据处理是目前应用最多的软件，本文华算科技介绍了从软件下载到Athena处理数据的过程，通过这些步骤可以分析出样品的特征结构、配位环境、价态变化、近邻配…
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什么是X射线吸收光谱（XAS）？
说明：本文华算科技从基本物理过程、谱图特征、价态判定、局域结构解析、简称、专业术语对XAS进行了基础讲解。 通过上述六个方面的解读，可以一次性掌握 XAS 的“能力”：不仅知道这项…
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冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM）在化学材料领域的应用——综述推荐
总结：本文以中国科学院化学研究所冷冻电镜平台的研究成果为基础，介绍了冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM）技术的发展背景、核心优势，以及其在化学材料领域的六大典型应用（不耐电子束损…
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聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）分析技术与附件应用
总结：本文先简要回顾扫描电镜（SEM）的工作原理（逐点扫描成像）与核心构造（电子光学系统、信号收集系统、真空系统），再重点介绍聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）的常用分析技术（…
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聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）作用原理与关键部件特性
总结：本文围绕聚焦离子束（FIB）展开，详细介绍了FIB与物质相互作用的基本原理（电子束、离子束、超短脉冲激光束与物质作用产生的信号及应用场景），系统阐述了FIB的三大核心部件（电…
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SEM与TEM技术应用于层状纤维素复合材料微观结构表征分析
总结：本文围绕层状纤维素复合材料的微观结构表征展开，介绍了针对纤维素纳米晶基复合材料两种核心样品制备技术（液氮脆断法、超薄切片法），以及扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（T…
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场发射透射电镜（TEM）常见故障排查与解决指南
总结：在本文中，读者可学习到不同故障的识别依据（如UI界面提示、设备状态异常表现）与分级处理逻辑（小故障自主排查、严重故障联系工程师），掌握真空恢复、Ceta相机降温、X轴漂移校准…
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FIB-SEM: 二维成像、三维断层扫描与TEM薄片制备
总结： 作为材料研究中的多功能强大工具，聚焦离子束–扫描电镜（FIB-SEM）可实现多尺度多维度的精细微观结构分析。之前的文章主要介绍FIB-SEM中的聚焦束与物质相互…
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透射电子显微镜（TEM）深度解析：核心原理、关键构成与部件功能
总结：本文详细介绍了透射电子显微镜（TEM）的发展背景、核心工作原理、与扫描电子显微镜（SEM）的关键差异，以及TEM的三大核心系统（电子光学系统、真空系统、控制系统）及主要部件（…
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XAFS如何定量分析样品的价态？
说明：在XAFS数据中，一条XANES谱线可被合理地分解为一组阶跃函数（atan或erfc）和峰函数（高斯、洛伦兹或福伊特）的组合。这类分析只有在处理一整组相互关联的数据时才最具意…
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13种体系！一文带你掌握XANES分析方法！
说明：本文华算科技介绍了XANES谱图数据应用的实际案例，文字简洁，目的明确，读者可以根据本文快速确定自己体系如何使用XANES。 案例包括：Coordination（配位环境）、…
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E空间中XANES如何确定价态与局域对称性？
说明：在材料与催化研究中，判断活性中心的价态与对称性是揭示反应机理和设计新型催化剂的核心。 E空间中的XANES能以独特的灵敏度捕捉价态演变和几何畸变，提供其他方法难以获得的关键信…
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扫描电子显微镜（SEM）荷电效应：形成机制、影响及消除方法指南
总结：本文先对SEM中常见电子信号（二次电子、背散射电子、透射电子）与衬度的关系进行总结，随后重点聚焦SEM观察中的荷电效应——详细介绍其形成原因（不导电 / 导电不良样品电荷积累…
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扫描电子显微镜（SEM）像衬度形成原理：从信号机制到实际应用
总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）像衬度的核心形成原理，重点阐述了形貌衬度、原子序数（成分）衬度、磁衬度、电位衬度、电子通道衬度（ECC）及密度衬度的产生机制，结合二次电…
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扫描电子显微镜（SEM）基础原理：工作方式、电子-样品相互作用信号解析
总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）的基本工作原理及电子与样品相互作用产生的各类信号（二次电子、背散射电子、特征X射线等），涵盖不同信号的产生机制、能量与穿透深度特性、产额…
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FIB 制样损伤修复指南：非晶层问题解析与氩离子修复技术应用
总结：读者可系统学习到FIB制样的操作逻辑与非晶层损伤的形成机制，掌握用氩离子技术去除非晶层的实操要点，了解不同TEM制样方法的适用场景与损伤控制策略，为高精度TEM表征提供样品制…
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场发射扫描电镜（FE-SEM）在锂电硅基负极表征中的应用：性能分析与工艺优化
总结：本文重点阐述了场发射扫描电镜（以Apreo2为例）在硅基负极表征中的具体应用 —— 通过 T1/T2/T3探测器多维度观察循环前后硅基负极的形貌、导电网络及SEI膜变化，辅助…
