测试表征技术专区
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聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）分析技术与附件应用
总结：本文先简要回顾扫描电镜（SEM）的工作原理（逐点扫描成像）与核心构造（电子光学系统、信号收集系统、真空系统），再重点介绍聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）的常用分析技术（…
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聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）作用原理与关键部件特性
总结：本文围绕聚焦离子束（FIB）展开，详细介绍了FIB与物质相互作用的基本原理（电子束、离子束、超短脉冲激光束与物质作用产生的信号及应用场景），系统阐述了FIB的三大核心部件（电…
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SEM与TEM技术应用于层状纤维素复合材料微观结构表征分析
总结：本文围绕层状纤维素复合材料的微观结构表征展开，介绍了针对纤维素纳米晶基复合材料两种核心样品制备技术（液氮脆断法、超薄切片法），以及扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（T…
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场发射透射电镜（TEM）常见故障排查与解决指南
总结：在本文中，读者可学习到不同故障的识别依据（如UI界面提示、设备状态异常表现）与分级处理逻辑（小故障自主排查、严重故障联系工程师），掌握真空恢复、Ceta相机降温、X轴漂移校准…
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FIB-SEM: 二维成像、三维断层扫描与TEM薄片制备
总结： 作为材料研究中的多功能强大工具，聚焦离子束–扫描电镜（FIB-SEM）可实现多尺度多维度的精细微观结构分析。之前的文章主要介绍FIB-SEM中的聚焦束与物质相互…
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透射电子显微镜（TEM）深度解析：核心原理、关键构成与部件功能
总结：本文详细介绍了透射电子显微镜（TEM）的发展背景、核心工作原理、与扫描电子显微镜（SEM）的关键差异，以及TEM的三大核心系统（电子光学系统、真空系统、控制系统）及主要部件（…
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XAFS如何定量分析样品的价态？
说明：在XAFS数据中，一条XANES谱线可被合理地分解为一组阶跃函数（atan或erfc）和峰函数（高斯、洛伦兹或福伊特）的组合。这类分析只有在处理一整组相互关联的数据时才最具意…
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13种体系！一文带你掌握XANES分析方法！
说明：本文华算科技介绍了XANES谱图数据应用的实际案例，文字简洁，目的明确，读者可以根据本文快速确定自己体系如何使用XANES。 案例包括：Coordination（配位环境）、…
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E空间中XANES如何确定价态与局域对称性？
说明：在材料与催化研究中，判断活性中心的价态与对称性是揭示反应机理和设计新型催化剂的核心。 E空间中的XANES能以独特的灵敏度捕捉价态演变和几何畸变，提供其他方法难以获得的关键信…
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扫描电子显微镜（SEM）荷电效应：形成机制、影响及消除方法指南
总结：本文先对SEM中常见电子信号（二次电子、背散射电子、透射电子）与衬度的关系进行总结，随后重点聚焦SEM观察中的荷电效应——详细介绍其形成原因（不导电 / 导电不良样品电荷积累…
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扫描电子显微镜（SEM）像衬度形成原理：从信号机制到实际应用
总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）像衬度的核心形成原理，重点阐述了形貌衬度、原子序数（成分）衬度、磁衬度、电位衬度、电子通道衬度（ECC）及密度衬度的产生机制，结合二次电…
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扫描电子显微镜（SEM）基础原理：工作方式、电子-样品相互作用信号解析
总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）的基本工作原理及电子与样品相互作用产生的各类信号（二次电子、背散射电子、特征X射线等），涵盖不同信号的产生机制、能量与穿透深度特性、产额…
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FIB 制样损伤修复指南：非晶层问题解析与氩离子修复技术应用
总结：读者可系统学习到FIB制样的操作逻辑与非晶层损伤的形成机制，掌握用氩离子技术去除非晶层的实操要点，了解不同TEM制样方法的适用场景与损伤控制策略，为高精度TEM表征提供样品制…
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场发射扫描电镜（FE-SEM）在锂电硅基负极表征中的应用：性能分析与工艺优化
总结：本文重点阐述了场发射扫描电镜（以Apreo2为例）在硅基负极表征中的具体应用 —— 通过 T1/T2/T3探测器多维度观察循环前后硅基负极的形貌、导电网络及SEI膜变化，辅助…
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TEM 在半导体领域的应用：工艺开发与失效分析案例详解
总结：在本文中，读者可系统学习到利用TEM/HRTEM测量半导体器件关键尺寸（如栅极氧化物厚度、界面层厚度）、分析材料微观结构（如晶粒形态、相组成）的实操思路，掌握半导体失效模式（…
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半导体工业TEM样品制备技术：方法演变、FIB应用与损伤控制
总结：在本文中，读者可系统学习到半导体TEM样品（横截面 / 平面）的针对性制备步骤、FIB技术在特定区域样品制备中的要点，掌握FIB损伤层控制与样品转移的关键技巧，了解不同制备方…
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扫描电镜（SEM）技术全解析：成像原理、核心结构、信号采集与应用指南
总结：本文围绕扫描电镜（SEM）技术展开，系统介绍了SEM的成像原理（电子束扫描与信号检测）、核心结构（电子枪、真空系统、电磁透镜、探测器等）、电子束与样品的相互作用机制（弹性 /…
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扫描电镜（SEM）操作指南：如何获得高质量的SEM图片
总结：本文围绕 “如何获得高质量SEM图片” 展开，详细介绍了SEM高质量图片的8大评价标准，并从样品制备、仪器参数调整、常见成像假象解决三大核心维度，结合具体案例与图表提供实操方…
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TEM的基本构造、原理、表征方法
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）作为现代材料科学和生命科学研究中不可或缺的工具，在纳米科技领域发挥着关键作用。这种强大的显…
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108页PPT丨一文带你全面解析透射电镜（TEM）电子衍射及显微分析
总结：本文由华算科技整理，以 108 页 PPT 的丰富篇幅，全面介绍了透射电镜（TEM）显微分析的核心原理及电子衍射技术的理论基础与应用场景。读者可系统学习到TEM的成像原理、核…
