透射电子显微镜

钙钛矿氧化物（通用化学式\(ABO_3\)）凭借丰富的结构复杂性和多功能特性，在铁电存储、高温超导、光催化等领域具有广泛应用前景。透射电子显微镜（TEM）及其相关技术的飞速发展，尤…

说明：本文华算科技通过介绍缺陷与掺杂的定义、影响、表征与构建方法以及应用领域，系统性的介绍了什么是缺陷、什么是掺杂，明确介绍了两者的差异。通过本文将好地理解材料修饰方法中缺陷与掺杂…

说明：本文华算科技详细介绍了透射电子显微镜（TEM）在原子结构解析、晶体缺陷分析、元素成分分布、电子结构特征、局域化学键合、原位动态观测、电荷密度与电场分布映射以及三维结构重构等方…

说明：本文华算科技详细介绍了聚焦离子束（FIB）技术在透射电子显微镜（TEM）样品制备中的应用。文中阐述了FIB的制备原理、样品定位与区域选择、离子束加工、薄片提取、精细减薄、损伤…

说明：本文华算科技介绍了球差电镜（AC-TEM）的原理和优势。球差电镜通过加装球差校正器，有效校正了普通电子显微镜的球面像差。它能在原子级别清晰分辨材料结构、降低成像伪影，并精准表…

说明：本文华算科技详细介绍了材料表面缺陷的分类及其形成原因和影响，重点阐述了多种检测技术，包括宏观光学显微镜、白光干涉仪、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、原子力显微镜、X射线光电子…

说明：单晶具有唯一的晶面取向，衍射电子束在特定方向相干叠加，形成规则排列的衍射斑点；而多晶由无数随机取向的晶粒构成，其衍射电子束呈圆锥对称分布，从而在接收屏上呈现为一系列同心圆环。…

说明：本文华算科技系统介绍了掺杂：定义其通过异质原子引入调控电子结构、晶格与吸附；详述提升活性、导电性、稳定性的作用；介绍XPS、DFT、XAFS、TEM、XRD、AC-STEM、…

说明：本文华算科技系统阐述了如何通过透射电子显微镜选区电子衍射（SAED）技术深度解析晶体材料的微观结构信息，探讨了SAED在晶体对称性判定、晶格参数定量、相鉴定、缺陷分析及应变表…

说明：本文华算科技介绍了氧空位定义、成因及在催化、离子/电子导电、光电磁学中的关键作用，重点介绍EQCM、EIS、LSV、CV、计时电位、原位Raman/XAS等电化学技术，如何原…

说明：本文华算科技系统阐述氧空位定义、形成机制及其在催化、电学、光学、磁学中的关键作用，并详述XRD、EPR、XPS、拉曼、TEM、PL六种表征手段的原理、分析方法与优劣，为氧空位…

说明：本文华算科技介绍了包括SEM、AFM、TEM、XRD、比表面积分析、XPS、电化学性能表征如CV、GCD、EIS以及原位XRD/SEM/TEM/Raman/FTIR。这些技术…

说明：本文华算科技主要讲解XRD结晶度降低的核心原因，理清物理、化学、微观结构、样品制备与测试四类关键影响因素，包含多种表征技术互相验证的方法，可帮助读者全面掌握XRD结晶度相关的…

说明：本文华算科技主要介绍了晶体结构的基本要素，包括空间点阵和基元，以及晶体学核心参数如点阵基矢、晶格常数和七大晶系。详细解释了晶向指数、晶面指数、晶面间距和晶带的概念及其在透射电…

说明：在多相催化研究中，纳米催化剂的原子级结构解析与动态反应机制探究是核心难题，传统表征技术常因分辨率、适用性等局限难以突破。同步辐射技术凭借高强度、高分辨率等独特优势，成为破解这…

说明：本文华算科技讲了 TEM 衍射图像的形成原理，包括电子波粒二象性、相干散射基础，晶面衍射的布拉格条件、系统消光。读者可以理解衍射图像与晶体结构的关联，为后续分析样品信息打基础…

说明：本文华算科技系统性地介绍了异质结的定义、机理、表征方法以及应用，读者可深入了解什么是异质结，异质结的分类与应用等问题。 一、什么是异质结？异质结是指两种或多种化学组成、晶体结…

说明：本文华算科技主要介绍了异质结的概念、形成机制、分类方式以及表征方法。异质结是由不同材料接触形成的界面结构，其形成改变了载流子分布和能带排列。文中还详细介绍了多种表征异质结的手…

说明：本文华算科技详细介绍了内建电场的形成机制、作用、关键公式，以及如何通过调控功函数梯度、构建多孔核壳结构等方法调控内建电场。同时，文章还探讨了如何使用SEM和TEM、XPS、U…

说明：本文华算科技详细介绍了异质结的定义、作用、分类，阐述了如何通过TEM/HRTEM、XRD、EDX、XPS、拉曼光谱、PL光谱、EIS、TPV/TAS、ROS检测表征异质结，以…