透射电子显微镜

说明： 本文华算科技介绍了固溶体的定义、分类方式、形成机制及表征手段，涵盖置换型与间隙型、无限与有限、有序与无序等分类，解析了凝固过程中的形核生长、溶质再分配以及固态扩散机制，并介…

说明：本文华算科技介绍了界面效应和限域效应的概念、作用机制、核心差异以及表征方法。界面效应源于不同相材料接触时的电子转移和结构重构，影响催化活性、导电性等性能；限域效应则因物质被限…

说明：本文华算科技介绍了电子显微镜的分类、工作原理、技术特点及选型方法。电子显微镜分为TEM、SEM、STEM和Cryo-EM等。文中对比了各类电镜的核心性能指标，并提出了根据观测…

说明：本文华算科技介绍了氧空位的定义、形成机制、作用以及表征方法。氧空位是晶体结构中氧原子缺失形成的缺陷，可优化材料电子结构、催化性能、储能性能和光学性质。常用的表征方法包括XPS…

说明：透射电子显微镜（TEM）、高分辨透射电子显微镜（HRTEM）以及扫描透射电子显微镜（STEM）在材料科学、生物学等众多领域应用广泛，其原理和功能各有特点。本文华算科技对三者的…

说明：本文华算科技介绍了催化剂表面重构的现象、驱动力、分类及表征手段。表面重构是指催化剂在反应环境下表面原子结构、化学组成或电子结构发生变化的过程，其驱动力是体系自由能最小化。文章…

说明：本文华算科技介绍了掺杂的定义、核心特征及与混合、包覆等概念的边界，重点讲解了成分分布表征和结构表征技术，如电感耦合等离子体发射光谱、X射线光电子能谱、能量色散X射线光谱、二次…

说明：本文华算科技介绍了缺陷的定义、分类及其对材料性能的提升机制。缺陷分为点缺陷、线缺陷、面缺陷和体缺陷。缺陷可引入新的能级、改变费米能级、提供迁移通道、降低迁移能垒，从而提升材料…

说明：本文华算科技介绍了高分辨透射电子显微镜（HRTEM）的原理、特性及应用。HRTEM可解析原子尺度的结构信息，但其图像并非原子的直接投影，而是相位差的间接反映。文中分析了成像参…

说明：在透射电镜（TEM）里，明场和暗场就像给材料“拍照片”的两种不同模式；就像拍照时让大部分光线透过物体，明场成像用的是穿过样品的“直射电子束”（透射束），而暗场则是专门“抓拍”…

说明：本文华算科技介绍了奥斯瓦尔德熟化现象，包括其定义、热力学和动力学原理，以及影响因素如界面张力、扩散系数、温度等。文章还阐述了多种表征熟化过程的方法，包括电子显微技术、动态光散…

钙钛矿氧化物（通用化学式\(ABO_3\)）凭借丰富的结构复杂性和多功能特性，在铁电存储、高温超导、光催化等领域具有广泛应用前景。透射电子显微镜（TEM）及其相关技术的飞速发展，尤…

说明：本文华算科技通过介绍缺陷与掺杂的定义、影响、表征与构建方法以及应用领域，系统性的介绍了什么是缺陷、什么是掺杂，明确介绍了两者的差异。通过本文将好地理解材料修饰方法中缺陷与掺杂…

说明：本文华算科技详细介绍了透射电子显微镜（TEM）在原子结构解析、晶体缺陷分析、元素成分分布、电子结构特征、局域化学键合、原位动态观测、电荷密度与电场分布映射以及三维结构重构等方…

说明：本文华算科技详细介绍了聚焦离子束（FIB）技术在透射电子显微镜（TEM）样品制备中的应用。文中阐述了FIB的制备原理、样品定位与区域选择、离子束加工、薄片提取、精细减薄、损伤…

说明：本文华算科技介绍了球差电镜（AC-TEM）的原理和优势。球差电镜通过加装球差校正器，有效校正了普通电子显微镜的球面像差。它能在原子级别清晰分辨材料结构、降低成像伪影，并精准表…

说明：本文华算科技详细介绍了材料表面缺陷的分类及其形成原因和影响，重点阐述了多种检测技术，包括宏观光学显微镜、白光干涉仪、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、原子力显微镜、X射线光电子…

说明：单晶具有唯一的晶面取向，衍射电子束在特定方向相干叠加，形成规则排列的衍射斑点；而多晶由无数随机取向的晶粒构成，其衍射电子束呈圆锥对称分布，从而在接收屏上呈现为一系列同心圆环。…

说明：本文华算科技系统介绍了掺杂：定义其通过异质原子引入调控电子结构、晶格与吸附；详述提升活性、导电性、稳定性的作用；介绍XPS、DFT、XAFS、TEM、XRD、AC-STEM、…

说明：本文华算科技系统阐述了如何通过透射电子显微镜选区电子衍射（SAED）技术深度解析晶体材料的微观结构信息，探讨了SAED在晶体对称性判定、晶格参数定量、相鉴定、缺陷分析及应变表…