透射电子显微镜

说明：本文探讨了二维材料的表征技术及其应用前景。重点介绍了拉曼光谱、原子力显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射技术和X射线光电子能谱等表征手段，阐述了各自的原理、特点…

说明：电子能量损失谱，简称 EELS，是透射电子显微镜（TEM）中使用的强大分析技术，具有高灵敏度、纳米级分辨率和丰富信息获取能力，广泛应用于材料科学和纳米技术领域。本文主要介绍了…

电子显微技术在材料科学、纳米技术、生物学和医学等领域发挥着不可或缺的作用，本文就SEM、TEM和AFM三种技术的原理、特点及应用场景进行讨论，可以根据实际需求选择合适的技术。 01…

1932年，德国科学家Knoll和Ruska成功研制出世界上第一台透射电子显微镜（transmission electron microscope, TEM）。  经过近90年的发…