透射电子显微镜

说明：本文华算科技详细阐述了尖端效应定义、重要公式，并介绍形貌表征、电场/浓度测量、FEA/MD/DFT模拟方法，展示其在高效催化、原子操控、强化传质中的广泛应用。 什么是尖端效应…

说明：本文华算科技介绍了氧空位的作用及多种表征方法。氧空位可调控电子结构、增加活性位点、改变反应路径，提升催化性能。文中详细阐述了EPR、XPS、TEM、SEM、原位拉曼光谱、原位…

说明：本文主要介绍了高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）的成像原理、优势及应用。HRTEM基于电子波的干涉与衍射效应，通过像差校正技术实现原子级成像，能清晰揭示材料的原子排列、晶格…

说明：本文华算科技主要介绍了晶体缺陷在材料中的重要作用，包括晶体缺陷的种类、引入缺陷的方法（如热还原法、等离子体技术、球磨法等），以及表征缺陷的技术（如透射电子显微镜、X射线光电子…

说明：在透射电镜（TEM）里，明场和暗场就像给材料“拍照片”的两种不同模式；就像拍照时让大部分光线透过物体，明场成像用的是穿过样品的“直射电子束”（透射束），而暗场则是专门“抓拍”…

说明：本文探讨了二维材料的表征技术及其应用前景。重点介绍了拉曼光谱、原子力显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射技术和X射线光电子能谱等表征手段，阐述了各自的原理、特点…

说明：电子能量损失谱，简称 EELS，是透射电子显微镜（TEM）中使用的强大分析技术，具有高灵敏度、纳米级分辨率和丰富信息获取能力，广泛应用于材料科学和纳米技术领域。本文主要介绍了…

电子显微技术在材料科学、纳米技术、生物学和医学等领域发挥着不可或缺的作用，本文就SEM、TEM和AFM三种技术的原理、特点及应用场景进行讨论，可以根据实际需求选择合适的技术。 01…

1932年，德国科学家Knoll和Ruska成功研制出世界上第一台透射电子显微镜（transmission electron microscope, TEM）。  经过近90年的发…