说明:本文华算科技通过介绍缺陷与掺杂的定义、影响、表征与构建方法以及应用领域,系统性的介绍了什么是缺陷、什么是掺杂,明确介绍了两者的差异。通过本文将好地理解材料修饰方法中缺陷与掺杂的应用。
一、什么是缺陷?

缺陷是理想晶体结构在实际条件下的偏离或不完整性,是材料中原子排列违背长程有序性的区域。理想晶体仅存在于理论模型中,实际材料因制备工艺、热力学波动、外界环境作用等,必然存在不同类型的缺陷。
根据空间维度和形态,缺陷主要分为4类,包括点缺陷(空位)、线缺陷(线状畸变)、面缺陷(晶界)以及体缺陷(孔洞)。

DOI: 10.1002/adma.202208564
缺陷的影响
缺陷对材料性能的影响具有显著的双重特征,其作用效果取决于缺陷类型、密度、分布及材料应用场景:
负面效应:首先,空位与孔洞会降低材料致密度,进而造成力学强度下滑,而裂纹会成为应力集中的关键点,容易诱发材料断裂失效。
晶界与位错则会对载流子(电子、空穴)和光子产生散射作用,从而破坏半导体的导电性与光学透明性。
此外,缺陷处的原子因配位不饱和,往往会成为电化学腐蚀的活性位点,最终加速材料老化。

DOI: 10.1016/j.ceramint.2025.02.114
正面效应:表面缺陷可作为催化反应的活性中心,既能吸附反应物,也能有效降低反应能垒。而在半导体中,缺陷态能级能捕获或释放载流子,以此调控载流子的寿命与迁移率。
对于金属材料而言,位错滑移可通过加工硬化的方式,提升材料的拉伸强度与硬度。至于储能材料,其中的缺陷能构建离子传输通道,促进Li+、Na+等离子扩散,进而提升材料的倍率性能。

DOI: 10.34133/2019/2198906
缺陷表征方法
1. 透射电子显微镜(TEM):对于缺陷表征,TEM显然是能最直观的得到实空间中缺陷结构的表征方法。TEM表征测试使用高能电子束穿透样品,通过原子对电子的散射形成影像,其分辨率达原子级,能够直接观察原子的排列。

DOI: 10.1007/s11664-017-5836-7
2. 扫描电子显微镜(SEM):另一个能够直接观测缺陷结构的表征测试方法就是SEM,SEM通过电子束轰击样品表面产生的二次电子,形成表面形貌图像。不过SEM的精度一般只在nm级别,所以常常用来观察大尺度缺陷。

DOI: 10.1016/j.matchar.2018.08.044
3. 原子力显微镜(AFM):AFM的探测原理是使用探针扫描样品表面,通过针尖与表面原子间的相互作用力反映表面形貌。AFM适合用于表征材料表面的台阶、凹坑、凸起、粗糙度,其分辨率很高,也能达到原子级别,可表征表面三维形貌与局部力学性能。

DOI: 10.1002/smll.202504742
缺陷构建方法
1. 热加工法
热加工法是通过温度与冷却/保温过程的调控,实现材料缺陷的精准调控,是金属、陶瓷材料中最常用的缺陷改性手段之一。
其中高温淬火的操作通常是将材料加热至相变温度以上,保温一段时间使原子充分扩散后,选用油冷、水冷或液氮冷等不同冷却介质快速降温。冷却速率越快,原子的扩散运动越易被“冻结”,材料内部会保留更多空位、间隙原子等点缺陷。

DOI: 10.1007/s11837-023-05741-6
2. 辐照法
辐照法是利用高能粒子的轰击效应引入缺陷,不同类型的高能束流会产生不同的缺陷形态。电子束辐照能量相对较低,主要通过碰撞电离使晶格原子脱离平衡位置,生成空位–间隙原子对,该缺陷多集中在材料表层。中子束辐照的穿透性极强,能深入体材料内部,轰击后会产生大量位错、晶界等面缺陷,不过这类缺陷易随时间“自愈”,通常需配合后续退火固定。

DOI: 10.21203/rs.3.rs-2963591/v1
3. 化学法
化学法是通过化学反应的选择性作用调控缺陷,操作简便且成本较低。湿法刻蚀是其中最常用的手段,刻蚀物质会沿材料表面均匀腐蚀,形成凹坑、孔洞等随机缺陷,常用来增加催化剂的比表面积。

DOI: 10.1021/acsomega.8b01049
重要应用
催化领域
金属氧化物中的氧空位,因缺陷处原子配位不饱和、存在未配对电子,可提供电荷作用位点,既能吸附反应物分子,又能削弱其化学键以降低反应活化能,从而成为催化反应的活性中心。

DOI: 10.1021/jacs.4c14073
储能领域
锂电池正极材料的表面缺陷,能构建更短的离子传输路径,同时调整晶格局部的电场环境,减小锂离子迁移过程中的阻力,以此降低扩散能垒,提升材料的倍率性能与循环稳定性。

DOI: 10.1016/j.apenergy.2024.122968
光电领域
量子点的表面缺陷会形成局域电子态,这些态能调整电子–空穴对的复合路径与能量水平,进而调控发光波长与量子产率。
钙钛矿太阳能电池中的缺陷钝化,是通过消除空位等缺陷对应的深能级陷阱,减少载流子的非辐射复合损失,从而提升光电转换效率与器件稳定性。

DOI: 10.1016/j.apsusc.2023.156931

二、什么是掺杂?

掺杂是人为向基体材料中引入少量特定异质原子,通过掺杂剂取代晶格原子或占据晶格间隙,改变材料电子结构、晶格环境与物理化学性能的精准调控方法。

DOI: 10.1016/j.materresbull.2021.111374
掺杂的影响
电学性能:在电学性能的调控中,掺杂剂能发挥多方面的核心作用。它可以提供或捕获载流子,以此显著提高载流子的浓度,进而让材料的电导率实现较大幅度的提升。同时,掺杂剂还能调控载流子的类型,帮助材料完成n型与p型之间的电性转换。

DOI: 10.1016/j.matchemphys.2023.128079
催化性能:掺杂原子能通过电子转移调整活性中心的电子态,进而增强对反应中间体的吸附能力。同时,它还能帮助催化剂形成异质结构,构建特定的活性位点,以此有效降低反应的能垒。除此之外,掺杂原子也能优化催化剂的导电性与结构稳定性,让催化过程既高效又更持久。

DOI: 10.1016/j.apsusc.2022.154186
光学性能:在光学性能的调控中,掺杂能调整材料的禁带宽度,让材料适配不同波段的光响应需求。而稀土元素的掺杂,还能让材料实现特征发光,常被用于荧光器件的制备。除此之外,掺杂剂也可以作为发光中心或能量转移的媒介,进一步提升材料的光吸收与发光效率。

DOI: 10.1021/acsomega.8b03191
掺杂的表征方法
1. 能量色散X射线谱(EDS):掺杂方法由于掺入了异质元素,所以可用元素表征去进行分辨。EDS表征通过电子束激发样品产生元素特征X射线,然后依靠特征X射线能量与强度定性定量分析。

DOI: 10.1016/j.micron.2020.102864
2. X射线光电子能谱(XPS):XPS表征通过单色X射线激发样品产生光电子,其对应的电子结合能反映元素价态与化学环境。通过峰位置与峰型,可以判断掺杂原子价态与化学结合方式。

DOI: 10.1016/j.carbon.2020.02.065
3. X射线吸收谱(XAS):同步辐射X射线被样品吸收,吸收边结构能够反映原子的配位环境与电子结构。通过吸收边位置以及扩展边结构,可以判断掺杂原子的配位方式、局部结构和原子价态。

DOI: 10.1021/acscatal.2c00092
掺杂构建方法
固相烧结法
将基体粉末与掺杂剂粉末按比例混合、研磨均匀,在高温下通过原子扩散形成固溶体。适用于块体陶瓷、金属材料,如Al掺杂ZnO陶瓷的制备。该方法的优点是工艺简单、成本低,不过其掺杂均匀性依赖混合与扩散效率。

DOI: 10.1007/s00339-024-07628-y
电化学沉积法
电化学沉积法的核心原理,是在同时包含基体离子与掺杂剂离子的电解液中进行电解操作。电解作用会推动基体物质与掺杂剂同步发生沉积,进而形成掺杂材料。

DOI: 10.1016/j.ceramint.2021.11.004
溶胶-凝胶法
以金属醇盐等为前驱体,先由其形成溶胶体系,随后向该溶胶中加入掺杂剂,将混合物搅拌均匀后促使其发生凝胶化,再经干燥、焙烧处理,最终得到掺杂材料。溶胶体系本身的均一性,能让掺杂剂在凝胶形成过程中均匀嵌入基体的前驱体网络里,为后续掺杂材料的成分均匀性提供了条件。

DOI: 10.1002/er.6536
掺杂的应用
1. 催化领域:催化领域里,掺杂的作用原理在于,掺杂原子会改变催化剂活性中心的电子结构,优化反应中间体与活性中心之间的吸附、脱附特性,同时还能增强催化剂的结构稳定性,进而提升催化反应的活性与持续效率。

DOI: 10.1021/acs.jpcc.0c08080
2. 储能领域:储能领域中,掺杂的原理是通过掺杂原子的引入,一方面优化材料的电子导电性,降低离子迁移过程中的能垒,提升离子扩散速率。另一方面增加材料的活性位点、构建更通畅的离子传输通道,从而改善储能材料的倍率性能与储电容量

DOI: 10.1038/s41563-022-01390-3
3. 半导体领域:半导体领域中,掺杂的核心原理是通过引入特定类型的掺杂原子,向材料中提供或捕获载流子,以此调控载流子的浓度与类型,实现不同导电性能的精准调整,这是制备各类半导体器件的关键基础。

DOI: 10.3390/coatings11080945
总之,简单来说缺陷就是完整的晶体材料缺失了某一部分,而掺杂既是使用其他元素对原来的晶体材料的原子进行替代。它们从不同的角度影响着材料的性能,并为材料性能的提升做出贡献。
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