材料表征
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TEM图像分析丨仅需几步，搞定Digital Micrograph基本操作
总结：本文由华算科技整理，以实例演示的方式，详细介绍了Digital Micrograph（DM）软件在TEM图像分析中的基本操作与核心功能、关键分析操作及位错分析流程，同时提…
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透射电镜TEM结果分析实操指南：用Digital Micrograph搞定晶格标定与 SAED 晶相判断
总结：本文详细介绍了透射电镜TEM结果的分析处理方法，重点围绕Digital Micrograph软件的实操展开，包括HRTEM图像分析和选区电子衍射SAED分析，明确了不同文件格…
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透射电子显微镜（TEM）入门必备：组件功能、图像类型与样品要求全解析，轻松入门微观表征
z zo 总结：本文系统介绍了透射电镜TEM的入门知识，包括基本工作原理、核心组件的功能与分类，详细阐述了 TEM 的应用场景、图像类别及样品要求。 读者可学习到TEM的基础理论与…
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原位透射电镜在半导体中的应用：实时观察应变与位错演变，助力器件性能优化
总结：本文详细介绍了原位透射电镜技术在半导体研究中的核心应用，围绕半导体异质结构中应变与位错的动态观察展开，阐述了原位TEM的基本原理、技术实现、样品制备方法，重点呈现了其在半导体…
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半导体异质结构缺陷电镜观察：从位错表征到衍生技术，表征材料应变诱导缺陷
总结：本文围绕半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察展开，详细介绍了半导体异质结构中应变诱导缺陷的产生机制，系统阐述了透射电子显微镜TEM的多种成像技术——双束条件TBC成像…
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TEM技术SAED/CBED/HAADF解密准晶（QCs）的结构与应用潜力
总结：本文详细介绍了准晶（QCs）这一颠覆传统晶体对称性的新材料，包括其发现历程、核心特征、分类，重点阐述了透射电子显微镜TEM技术在准晶结构研究中的核心应用——通过选区电子衍射S…
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碳材料TEM研究全历程：从早期晶格成像到原子级解析，见证石墨、石墨烯的科学突破
总结：本文以时间为主线，详细介绍了透射电子显微镜（TEM）技术的发展与碳材料研究相互促进的历史进程，涵盖TEM技术的核心演进，以及其在碳材料领域的关键成果——从20世纪40年代观察…
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透射电子显微镜如何解决工程实践中的问题？——两个金属实践案例的图解
总结：本文以透射电子显微镜TEM为分析工具，通过两个金属工程实践案例，详细介绍了TEM如何解决实际应用中的材料问题：案例1 针对铜镍锌合金（CuNi10Zn36Mn）热轧边缘开裂现…
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冷冻电镜单颗粒分析（SPA）技术指南：从样品制备到三维重构，解锁生物大分子高分辨率结构
总结：本文详细介绍了冷冻电镜单颗粒分析（SPA）技术的核心原理、完整工作流程，重点阐述了关键技术环节的实操要点及常见问题解决方案，同时提及技术相关的核心概念。 读者可学习到冷冻电镜…
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透射电镜（TEM）赋能半导体：器件表征、成分分析及故障定位
总结：本文介绍了透射电子显微镜（TEM）在半导体行业的核心应用价值、关键成像技术，以及元素分析技术（EDS、EELS、EFTEM），还阐述了电子断层摄影术、电子全息术等先进技术在半…
