XRD技术全解析:原理、Jade 6数据分析及常见问题解决方案

说明:本文华算科技全面介绍了XRD技术的原理、操作细节、数据分析方法及常见问题的解决策略。读者可深入了解XRD的原理,包括X射线的衍射机制和布拉格定律;学习使用Jade 6软件进行数据分析,如背景扣除、数据平滑和物相检索;并了解常见问题的成因与解决方法。

PART 01

XRD基本原理

 

X射线是一种电磁波,波长范围为0.001-10nm。常用的X射线波长范围为0.05-0.25nm,这个尺度与晶体中的原子间距(大约0.1nm)相当,所以晶体可以作为X射线的天然光栅,能使X射线发生衍射,通过衍射的花样推断晶体的结构特征。

X射线以某一个入射角度射入晶体中时,晶体中规则排列的原子会使X射线发生散射,被散射的X射线会相互发生干涉,从而在某些特定的方向上由于干涉加强形成衍射峰。通过衍射峰在空间中分布的方位和强度等信息,可以推断出晶体的结构特征。衍射峰在空间的位置与晶体具体结构之间的关系可以用布拉格方程描述:

2dsinθ=nλ

在上式中,d表示晶面间距,θ为半衍射角,n是反射级数,λ为入射X射线的波长。

XRD技术全解析:原理、Jade 6数据分析及常见问题解决方案

 

1 布拉格衍射图。DOI:10.27162/d.cnki.gjlin.2020.000647

 

PART 02

XRD数据分析

Jade6 的基本操作步骤

1)数据导入

首先打开jade6软件,点击软件左上角第一个选项“File”并选择“Read…”读取XRD文件(格式为RAW文件)。

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2 jade6软件数据导入流程图

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3 jade6软件数据导入流程图

 

2)数据处理:背景扣除和数据平滑

导入数据后,通过双击jade6软件右上角“BG”选项,软件自动将数据背景扣除,从而去除衍射图谱中的背景噪声,使衍射峰更加清晰。之后点击XRD技术全解析:原理、Jade 6数据分析及常见问题解决方案选项,对数据进行平滑处理,减少数据中的随机噪声,提高衍射峰的信噪比。

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4 jade6软件数据背景扣除和数据平滑流程图

 

3)数据处理:物相检索

XRD数据导入进Jade6软件后,点击软件左上角的S/M选项。根据所测样品可能含有的物质,将物质对应的种类选中(本文所用数据为纯锂片的XRD数据,因此选择无机物Inorganics),选择完全后点击ok进行物相匹配。

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5 jade6软件物相检索流程图

可以根据软件所匹配出可能含有的物相、标准卡片与衍射峰的位置和强度对比、FOM数值大小和所测物质实际可能含有的元素判断出材料的物相组成。

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6 jade6软件使用界面

 

PART 03

XRD测试的常见问题

仪器相关问题

 

1)X射线源不稳定,表现为衍射峰强度波动大,测试结果重复性差。原因:X射线管老化、电源不稳定、冷却系统故障。解决方法:更换老化的X射线管;检查并稳定电源;检查冷却系统,确保其正常工作。

2探测器故障,表现为衍射图谱出现异常的噪声或信号缺失。原因:探测器老化、损坏或连接问题。解决方法:更换探测器;检查探测器与仪器的连接线路。

3测角仪精度下降,表现为衍射峰位置偏移,角度测量不准确。原因:测角仪机械磨损、编码器故障。解决方法:校准测角仪;更换磨损部件。

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样品相关问题

 

1样品粒度过大,表现为衍射峰变宽,峰形不清晰,峰强度低。原因:样品研磨不充分,颗粒尺寸大于10微米。解决方法:重新研磨样品,确保粒度小于10微米;使用球磨机或超声波分散设备。

2样品不均匀,表现为测试结果重复性差,不同位置的衍射图谱差异大。原因:样品混合不充分,存在成分偏析。解决方法:充分研磨并混合样品;多点取样测试,取平均值。

3样品表面不平整,表现为衍射峰强度低,峰形畸变。原因:样品未压实或表面有裂纹、杂质。解决方法:重新装样,用玻璃片轻轻压实样品;清洁样品表面,去除杂质。

4样品氧化或吸水,表现为衍射峰位置偏移,出现新的衍射峰。原因:样品暴露在空气中,发生氧化或吸湿反应。解决方法:在真空或惰性气体保护下测试;使用密封样品槽。

 

测试条件相关问题

 

1管电压和管电流设置不当,表现为衍射峰强度低,信噪比差。原因:管电压或管电流过低,X射线强度不足。解决方法:根据样品特性调整管电压和管电流,如铜靶设置为40 kV和40 mA。

2扫描参数设置不合理,表现为衍射峰分辨率低,数据质量差。原因:扫描范围过窄,步长过大,扫描速度过快。解决方法:扩大扫描范围,如10°-80°;减小步长,如0.02°-0.05°;降低扫描速度,如1°/min – 5°/min。

3环境条件不稳定,表现为测试结果波动大,重复性差。原因:温度、湿度变化大,仪器受环境影响。解决方法:控制测试环境温度在20-25℃,湿度不超过60%。

 

数据分析相关问题

 

衍射峰识别困难,表现为无法准确识别衍射峰,相鉴定困难。原因:衍射峰重叠、强度低、背景噪声大。解决方法:使用高分辨率XRD仪器;进行背景扣除和平滑处理;结合其他分析手段(如TEM、SEM)辅助鉴定。

 

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