晶体分析
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原位透射电镜在半导体中的应用:实时观察应变与位错演变,助力器件性能优化
总结:本文详细介绍了原位透射电镜技术在半导体研究中的核心应用,围绕半导体异质结构中应变与位错的动态观察展开,阐述了原位TEM的基本原理、技术实现、样品制备方法,重点呈现了其在半导体…
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TEM技术SAED/CBED/HAADF解密准晶(QCs)的结构与应用潜力
总结:本文详细介绍了准晶(QCs)这一颠覆传统晶体对称性的新材料,包括其发现历程、核心特征、分类,重点阐述了透射电子显微镜TEM技术在准晶结构研究中的核心应用——通过选区电子衍射S…