说明：本文华算科技主要介绍测量曲线上又窄又尖的毛刺从哪里来，探测器单点事件、同步辐射单色器的glitch、样品界面与外部环境的瞬时扰动怎样产生毛刺，以及怎样按宽度、重复性和位置把毛刺和真实窄峰分开再去掉。
曲线上的“毛刺”到底是什么？
毛刺是测量曲线上只占一个或相邻几个数据点的又窄又尖的突起，半高宽远小于仪器分辨率决定的真实峰宽。真实谱峰有固定位置、能在重复扫描里复现、宽度不低于仪器分辨；基线漂移是缓慢的整体抬升或起伏，跨越大段坐标范围。毛刺三者都不占，位置在坐标轴上随机，换一次扫描就换地方。
探测器最早制造毛刺。拉曼、光致发光和多数用CCD/CMOS采集的谱仪里，曝光期间一颗宇宙射线或环境高能粒子击中某个像元，单个或相邻少数像元瞬间积累大量电荷，读出后就是一个远高于邻点的尖峰。它的强度与激光功率、样品无关，出现位置随机，单次采集才有。
固定位置上持续偏高的点来自坏点和热像元，每次扫描都在同一处，与随机出现的宇宙射线尖峰不同。读出电子学的位翻转和量化跳变、接地不良的瞬态耦合，也在曲线上打出孤立单点跳变。器件毛刺的幅度与真实信号不成比例，靠单次测量难与窄峰区分。
同步辐射单色器产生谱线毛刺
同步辐射XAS和XRD用双晶单色器从白光里选出单一能量。扫描能量时，某个寄生的多重衍射条件一旦被满足，单色器把一部分光额外衍射走或引进来，入射强度I0在特定能量处骤变。归一化后的吸收系数μ(E)上于是出现一个又窄又尖的glitch。
glitch的能量位置由单色器晶体的方位决定，与样品无关。它不随样品成分或浓度移动。
换一块晶面、转动晶体或让双晶轻微失谐，glitch随之移动或被压低；谐波抑制不足时它更突出。同一样品在不同束线、不同晶体上测，glitch出现在不同能量处，据此能把它和样品的真实吸收特征分开。
EXAFS里没扣掉的glitch经傅里叶变换后，会在R空间生出一个又窄又假的肩峰，与真实配位壳层重叠。它的位置由glitch能量决定，不对应任何近邻原子。
把这个假肩峰当成近邻原子，就得到错误的配位数。扣除I0、剔除glitch所在的点或换晶面重测，能把假肩峰去掉后再拟合。
样品与环境带来毛刺
析气反应里，电极上气泡长大到脱离的一瞬，电极有效面积和局部欧姆压降骤变。恒电流下电位曲线呈缓升-骤降的锯齿，恒电位下电流出现向上的尖峰。跳变的深浅随气泡大小变化。
气泡越大、脱附越不规律，跳变越深；改善电极润湿、加搅拌促进脱附，锯齿随之变浅变密。这类跳变与真实析氧动力学无关。
接线松动、参比电极瞬时断路、颗粒从电极掉落和电弧、静电放电，在电流或电位曲线上留下孤立尖峰。此类尖峰随接触状态随机出现，紧固接线、清洁电极和稳定参比能压低它的出现频次。
50 Hz工频经地环路和屏蔽不良耦合进灵敏测量，单点接地和加强屏蔽能压掉这段周期性窄带抖动。机械振动和电源通断的瞬态则在低电流测量上打出尖刺，隔振与远离大功率设备可减少它们。
怎样区分并去除曲线毛刺？
把毛刺和真实窄峰分开，靠三条对照：宽度上，真峰不低于仪器分辨，毛刺只有一两个数据点；重复性上，同一位置重复扫描，真峰复现而宇宙射线尖峰不复现；位置上，真峰固定，毛刺随扫描或随仪器方位改变，面扫和成像里只出现在个别像素上。
中值滤波和移动窗口despike只替换被判成尖峰的点，保留邻近的真实峰形。多次扫描取中位数或平均后，不复现的宇宙射线尖峰被自然剔除，真峰因复现而留下。
同步辐射数据扣I0、剔除glitch点或换晶面重测去掉单色器毛刺，再做傅里叶变换。三条方法都以保留真峰为前提。
去尖阈值定得过窄，会把真实窄峰当毛刺删掉；定得过宽，又留下残余尖峰。报告数据时注明去尖方法、窗口宽度和阈值，让谱峰的位置和强度可复核。对拉曼、EXAFS等常带毛刺的曲线，剔尖后再拟合能避免把尖峰算进峰面积。
