内容分类
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EDS平插能谱技术特点与多领域应用案例解读：助力高效开展材料分析与科研探索
总结：本文详细介绍了平插能谱的核心技术特点，包括四独立集成 SDD 探测器的环形设计、高立体角、高输出计数率、适配低加速电压与低探针电流的优势，以及在规避阴影效应、裙散效应等方面的…
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透射电镜TEM的成像原理及图像解释
说明：本文由华算科技整理，通过阐述透射电镜与传统显微镜的差异，透射电镜图像衬度的形成机制，包括相位衬度和振幅衬度（质厚衬度、衍射衬度），质厚衬度和衍射衬度的原理及其在不同试样中的特…
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冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM）在化学材料领域的应用——综述推荐
总结：本文以中国科学院化学研究所冷冻电镜平台的研究成果为基础，介绍了冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM）技术的发展背景、核心优势，以及其在化学材料领域的六大典型应用（不耐电子束损…
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聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）分析技术与附件应用
总结：本文先简要回顾扫描电镜（SEM）的工作原理（逐点扫描成像）与核心构造（电子光学系统、信号收集系统、真空系统），再重点介绍聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）的常用分析技术（…
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聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）作用原理与关键部件特性
总结：本文围绕聚焦离子束（FIB）展开，详细介绍了FIB与物质相互作用的基本原理（电子束、离子束、超短脉冲激光束与物质作用产生的信号及应用场景），系统阐述了FIB的三大核心部件（电…
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SEM与TEM技术应用于层状纤维素复合材料微观结构表征分析
总结：本文围绕层状纤维素复合材料的微观结构表征展开，介绍了针对纤维素纳米晶基复合材料两种核心样品制备技术（液氮脆断法、超薄切片法），以及扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（T…
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场发射透射电镜（TEM）常见故障排查与解决指南
总结：在本文中，读者可学习到不同故障的识别依据（如UI界面提示、设备状态异常表现）与分级处理逻辑（小故障自主排查、严重故障联系工程师），掌握真空恢复、Ceta相机降温、X轴漂移校准…
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FIB-SEM: 二维成像、三维断层扫描与TEM薄片制备
总结： 作为材料研究中的多功能强大工具，聚焦离子束–扫描电镜（FIB-SEM）可实现多尺度多维度的精细微观结构分析。之前的文章主要介绍FIB-SEM中的聚焦束与物质相互…
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透射电子显微镜（TEM）深度解析：核心原理、关键构成与部件功能
总结：本文详细介绍了透射电子显微镜（TEM）的发展背景、核心工作原理、与扫描电子显微镜（SEM）的关键差异，以及TEM的三大核心系统（电子光学系统、真空系统、控制系统）及主要部件（…
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扫描电子显微镜（SEM）荷电效应：形成机制、影响及消除方法指南
总结：本文先对SEM中常见电子信号（二次电子、背散射电子、透射电子）与衬度的关系进行总结，随后重点聚焦SEM观察中的荷电效应——详细介绍其形成原因（不导电 / 导电不良样品电荷积累…
