聚焦离子束 (FIB) 系统
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FIB-SEM 三维重构：微观分析的核心技术，多领域应用揭秘
FIB-SEM的三维重构技术是当前微观结构分析的核心技术之一，其本质是通过“切割-成像-叠加”的循环，将样品内部的二维图像序列重建为三维立体模型。FIB-SEM三维重构技术凭借纳米…
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一文读懂FIB：从离子束原理到TEM制样，解锁纳米加工的万能钥匙
聚焦离子束（Focused Ion Beam，FIB）加工是一种基于高能离子束与物质相互作用的精密微纳加工技术，通过将离子束聚焦为纳米级束斑，利用离子束轰击样品表面，实现材料的刻蚀…
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透射电镜TEM的多种制样方法：离子减薄、电解双喷、FIB与超薄切片
透射电子显微镜（TEM）的工作原理是利用加速和聚焦的电子束投射到极薄的样品上，电子在样品中与原子发生碰撞后改变方向，从而产生立体角散射。这种散射的效果与样品的密度和厚度紧密相关，进…
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FIB与TEM技术强强联合——解锁材料/地质科研纳米级分析新可能
总结：本文详细介绍了聚焦离子束（FIB）与透射电镜（TEM）结合的技术体系，包括TEM的核心分析能力、FIB技术的发展简史与基本原理，重点阐述了FIB在TEM样品制备中的关键作用，…
