TEM

总结：本文详细介绍了旋进电子衍射（PED）技术的核心原理、技术优势，阐述了PED在晶体结构求解中的应用进展（如晶带轴PED/ZA-PED、衍射叠层ADT-PED、扫描旋进电子衍射S…

总结：本文以透射电子显微镜（TEM）为分析工具，通过三个核心案例详细介绍了不锈钢的微观结构特征及其与性能的关联：案例 1 解析双相不锈钢（铬-锰-氮系）中σ相的形成机制（从碳化物/…

总结：本文介绍了1928-1970年间材料/物理领域与透射电子显微镜（TEM）相关的经典论文，重点梳理了TEM在晶体缺陷研究中的关键突破（如位错、沉淀物、晶界、无沉淀区等缺陷的成像…

总结：本文介绍了透射电子显微镜（TEM）及扫描透射电子显微镜（STEM）的技术发展历程（从发明初期到球差校正、原位/环境TEM、冷冻电镜等技术突破）、传统STEM成像模式（BF、A…

总结：本文介绍了微束分析的定义、特点及常用技术分类，重点详解了能谱仪（EDS）技术的核心原理（包括X射线产生机制、特征X射线与轫致辐射X射线的区别）、数据输出形式（能谱图、定量结果…

总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的发展背景、早期技术探索，重点阐述了Albert Crewe在STEM领域的开创性贡献——包括提出使用场发射电子枪（FEG）解决电子源亮度不…

总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的商业发展历程与关键技术进步，重点阐述了像差校正技术的突破如何推动 STEM分辨率迈向亚埃级，还提及低电压STEM在二维材料表征中的应用，及…

总结：本文详细介绍了原位透射电子显微镜（In-situ TEM）技术的核心特点（可在外部刺激如温度、应力、电场等条件下动态观察材料原子/纳米级行为）、实验设计逻辑，以及在相变、电池…

总结：本文介绍了1970年代透射电子显微镜（TEM）领域的多篇经典论文，重点解读了调幅分解理论在Cu-Ni-Fe合金中的实验验证、高分辨透射电子显微镜（HRTEM）成像技术的关键进…

总结：本文介绍了现代电子显微学领域虽在分辨率提升（如球差校正技术实现亚埃级分辨率）方面取得显著进展，但仍存在的一系列尚未解决的核心问题，包括理论图像模拟与实验显微像衬度差异大、电子…

总结：本文详细介绍了4D-STEM技术的定义（通过阵列化探测器记录扫描过程中每个探针位置的二维衍射图案，形成四维数据集）、命名规则与术语演变，阐述了其探测器的发展历程、核心计算方法…

总结：本文详细介绍了陶瓷晶界微观结构的多种表征技术（如HRTEM、球差校正STEM、PEND、4D-STEM、EDS/EELS），阐述了不同技术在原子/纳米尺度观察晶界原子排列、元…

总结：本文详细介绍了选区电子衍射（SAD）技术的核心原理（基于电子波动性与布拉格定律）、倒易空间的概念（倒易矢量与晶格转换关系），以及不同类型衍射图谱（粉末、单晶、孪晶、多相、双衍…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…

总结：本文详细介绍了叠层成像技术的技术原理（通过采集不同探针位置的会聚束衍射图样，结合计算重构消除像差影响）、在未校正扫描透射电镜（STEM）中的突破性应用（对扭转二硒化钨双分子层…

总结：本文详细介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的核心原理、不同应用模式、谱图特征与分析方法（零损失峰、等离子激元峰、内壳激发电离边等），梳理了该技术从早期反射电子能谱到现代能量…

总结：本文详细介绍了单颗粒冷冻电镜技术的发展背景、历史演进、核心技术突破（直接电子检测相机提升信号质量、新图像处理算法优化数据解析、显微镜自动化降低使用门槛），以及在结构生物学领域…

总结：本文详细介绍了扫描透射电镜（STEM）中相干成像与非相干成像的核心概念、特性差异、关键影响因素，以及部分相干成像的特点，同时阐述了不同探测器（ADF、HAADF、cBF）对成…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜（Cryo-EM）的定义、发展历程、核心技术分类（含冷冻透射电子显微镜Cryo-TEM与冷冻传输扫描电镜Cryo-SEM），深入阐述了 “为何需要冷冻样…

总结：本文详细介绍了平插能谱的核心技术特点，包括四独立集成 SDD 探测器的环形设计、高立体角、高输出计数率、适配低加速电压与低探针电流的优势，以及在规避阴影效应、裙散效应等方面的…