缺陷表征

说明：EELS表征空位的核心在于探测由空位产生而导致的邻近原子在电子结构和化学环境上的微小变化。本文华算科技就EELS如何表征氧空位这一问题详细介绍EELS原理、分析方法与注意事项…

说明：华算科技系统梳理了晶体缺陷的定义、Arrhenius浓度公式及点、线、面、体四大缺陷类型，逐一展示ACTEM、XRD、EPR、XAS等实验手段和DFT计算，此外本文汇总了蚀刻…