衍射峰宽化

• 晶体分析

  XRD在晶体缺陷分析中的应用：缺陷类型、衍射效应与定量关联

  说明：本文华算科技讲解了XRD分析晶体缺陷的原理与方法，阐述了点、线、面、体类晶体缺陷如何通过晶格畸变和相干衍射域尺寸变化影响XRD图谱，表现为衍射峰宽化、强度变化、位移和畸变。文…

  华算科技

  3天前

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