衍射峰宽化
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多晶体材料晶粒尺寸的计算方法解析：金相法、XRD 法、电镜法与机器学习辅助法
说明：本文华算科技介绍了晶粒尺寸的基础概念、计算方法。晶粒尺寸是多晶体材料中单个晶粒的平均尺寸，通过统计多个晶粒数据来表征。计算方法包括传统金相法、X射线衍射法、电子显微分析法和机…
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XRD在晶体缺陷分析中的应用：缺陷类型、衍射效应与定量关联
说明：本文华算科技讲解了XRD分析晶体缺陷的原理与方法，阐述了点、线、面、体类晶体缺陷如何通过晶格畸变和相干衍射域尺寸变化影响XRD图谱，表现为衍射峰宽化、强度变化、位移和畸变。文…
