扫描电子显微镜
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材料表面缺陷谱系与成因探析:多模态表征技术的原理与应用对比
说明:本文华算科技详细介绍了材料表面缺陷的分类及其形成原因和影响,重点阐述了多种检测技术,包括宏观光学显微镜、白光干涉仪、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、原子力显微镜、X射线光电子…
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十大表征技术深度解读:SEM/AFM/TEM/XRD/BET/XPS与电化学性能测试全指南
说明:本文华算科技介绍了包括SEM、AFM、TEM、XRD、比表面积分析、XPS、电化学性能表征如CV、GCD、EIS以及原位XRD/SEM/TEM/Raman/FTIR。这些技术…
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SEM 成像与成分分析全解析:二次电子 (SE)、背散射电子 (BSE) 及 EDS 技术详解
说明:本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜(SEM)中二次电子(SE)像、背散射电子(BSE)像和能量色散光谱(EDS)数据的信号原理、图像特点及解读方法。详细阐述了SE像用于表征…
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内建电场是什么?如何通过功函数梯度/多孔结构调控?SEM/TEM/XPS表征全指南
说明:本文华算科技详细介绍了内建电场的形成机制、作用、关键公式,以及如何通过调控功函数梯度、构建多孔核壳结构等方法调控内建电场。同时,文章还探讨了如何使用SEM和TEM、XPS、U…
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什么是“晶格应变”? 类型、数学描述与中子衍射 / 拉曼光谱等表征手段
说明:本文华算科技系统阐述了晶格应变的基本概念、量化方法与多种先进表征技术,内容涵盖从宏观到微观的应变类型,详细介绍了应变张量的数学描述,并深入探讨了X射线衍射、中子衍射、电子衍射…
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五种电子显微表征技术(SEM, TEM, ESEM, EDS, EBSD)的原理与应用对比
说明:本文华算科技主要介绍了扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、环境扫描电子显微镜(ESEM)、能谱分析(EDS)和电子背散射衍射(EBSD)的工作原理、优势、测试…
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什么是“尖端放电效应”:定义公式、多尺度测量模拟及催化传质原子操控实践
说明:本文华算科技详细阐述了尖端效应定义、重要公式,并介绍形貌表征、电场/浓度测量、FEA/MD/DFT模拟方法,展示其在高效催化、原子操控、强化传质中的广泛应用。 什么是尖端效应…
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氧空位表征全解析:从常规技术(XPS/TEM/SEM)到原位/先进方法(原位Raman/XAFS/AC-HRTEM)的催化应用
说明:本文华算科技介绍了氧空位的作用及多种表征方法。氧空位可调控电子结构、增加活性位点、改变反应路径,提升催化性能。文中详细阐述了EPR、XPS、TEM、SEM、原位拉曼光谱、原位…
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什么是SEM?扫描电子显微镜的原理、结构、发展与应用全解析
说明:本文档系统介绍了扫描电子显微镜(SEM)的原理、结构、发展历程及其应用,涵盖电子枪类型、信号类型、台式与落地式设备对比等内容。 SEM结构和原理 扫描电子显微镜(SEM)由四…
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如何表征催化剂?全面解读XPS、TEM、XAS、BET、XRD、FT-IR、Raman、SEM、AFM等技术的原理与应用!
说明:这篇文章华算科技介绍了催化剂表征的重要性,包括揭示结构与性能关联、为设计催化剂提供依据等,还详细说明了比表面积分析、XRD、XPS等常用表征技术,阅读后能了解如何通过表征理解…
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SEM与TEM技术应用于层状纤维素复合材料微观结构表征分析
总结:本文围绕层状纤维素复合材料的微观结构表征展开,介绍了针对纤维素纳米晶基复合材料两种核心样品制备技术(液氮脆断法、超薄切片法),以及扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(T…
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扫描电子显微镜(SEM)基础原理:工作方式、电子-样品相互作用信号解析
总结:本文详细介绍了扫描电子显微镜(SEM)的基本工作原理及电子与样品相互作用产生的各类信号(二次电子、背散射电子、特征X射线等),涵盖不同信号的产生机制、能量与穿透深度特性、产额…
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二维材料多尺度表征技术体系:从原子结构到功能特性的跨维度解析
说明:本文探讨了二维材料的表征技术及其应用前景。重点介绍了拉曼光谱、原子力显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射技术和X射线光电子能谱等表征手段,阐述了各自的原理、特点…
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纳米粒度表征方法有哪些?
在对纳米颗粒进行研究时,我们经常需要对其粒度进行表征。纳米颗粒的粒度表征对于理解其物理和化学性质、优化生产过程、确保安全性以及开发新的应用都具有重要意义。通过精确的粒度表征,可以更…
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电子显微技术选择指南:SEM(表面形貌)、TEM(内部结构)、AFM(三维力学)的互补与局限
电子显微技术在材料科学、纳米技术、生物学和医学等领域发挥着不可或缺的作用,本文就SEM、TEM和AFM三种技术的原理、特点及应用场景进行讨论,可以根据实际需求选择合适的技术。 01…