相关技术

总结：本文详细介绍了两种主流电子显微镜技术——透射电子显微镜TEM与扫描电子显微镜SEM的基础理论、工作原理、核心组件，系统对比了两者在成像方式、样品要求、图像特征、加速电压及应用…

总结：本文围绕电极材料的透射电子显微镜TEM表征展开，详细介绍了TEM的核心作用、工作原理、结构组成与分类，对比了SEM与TEM的异同点，重点提供了基于Digital Microg…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜断层成像（Cryo-ET）技术的核心体系，包括技术原理、核心优势与局限性，系统阐述了技术全流程——样品制备、数据采集、断层重建，以及子断层图像平均法（S…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜单颗粒分析（SPA）技术的核心原理、完整工作流程，重点阐述了关键技术环节的实操要点及常见问题解决方案，同时提及技术相关的核心概念。 读者可学习到冷冻电镜…

总结：本文介绍了透射电子显微镜（TEM）在半导体行业的核心应用价值、关键成像技术，以及元素分析技术（EDS、EELS、EFTEM），还阐述了电子断层摄影术、电子全息术等先进技术在半…

总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的发展背景、早期技术探索，重点阐述了Albert Crewe在STEM领域的开创性贡献——包括提出使用场发射电子枪（FEG）解决电子源亮度不…

总结：本文介绍了扫描透射电镜（STEM）的商业发展历程与关键技术进步，重点阐述了像差校正技术的突破如何推动 STEM分辨率迈向亚埃级，还提及低电压STEM在二维材料表征中的应用，及…

总结：本文详细介绍了单颗粒冷冻电镜技术的发展背景、历史演进、核心技术突破（直接电子检测相机提升信号质量、新图像处理算法优化数据解析、显微镜自动化降低使用门槛），以及在结构生物学领域…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜（Cryo-EM）的定义、发展历程、核心技术分类（含冷冻透射电子显微镜Cryo-TEM与冷冻传输扫描电镜Cryo-SEM），深入阐述了 “为何需要冷冻样…

总结：本文以中国科学院化学研究所冷冻电镜平台的研究成果为基础，介绍了冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM）技术的发展背景、核心优势，以及其在化学材料领域的六大典型应用（不耐电子束损…

总结：本文先简要回顾扫描电镜（SEM）的工作原理（逐点扫描成像）与核心构造（电子光学系统、信号收集系统、真空系统），再重点介绍聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）的常用分析技术（…

总结：本文围绕聚焦离子束（FIB）展开，详细介绍了FIB与物质相互作用的基本原理（电子束、离子束、超短脉冲激光束与物质作用产生的信号及应用场景），系统阐述了FIB的三大核心部件（电…

总结：本文详细介绍了透射电子显微镜（TEM）的发展背景、核心工作原理、与扫描电子显微镜（SEM）的关键差异，以及TEM的三大核心系统（电子光学系统、真空系统、控制系统）及主要部件（…

总结：本文先对SEM中常见电子信号（二次电子、背散射电子、透射电子）与衬度的关系进行总结，随后重点聚焦SEM观察中的荷电效应——详细介绍其形成原因（不导电 / 导电不良样品电荷积累…

总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）像衬度的核心形成原理，重点阐述了形貌衬度、原子序数（成分）衬度、磁衬度、电位衬度、电子通道衬度（ECC）及密度衬度的产生机制，结合二次电…

总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）的基本工作原理及电子与样品相互作用产生的各类信号（二次电子、背散射电子、特征X射线等），涵盖不同信号的产生机制、能量与穿透深度特性、产额…

总结：本文重点阐述了场发射扫描电镜（以Apreo2为例）在硅基负极表征中的具体应用 —— 通过 T1/T2/T3探测器多维度观察循环前后硅基负极的形貌、导电网络及SEI膜变化，辅助…

总结：本文围绕扫描电镜（SEM）技术展开，系统介绍了SEM的成像原理（电子束扫描与信号检测）、核心结构（电子枪、真空系统、电磁透镜、探测器等）、电子束与样品的相互作用机制（弹性 /…

总结：本文围绕 “如何获得高质量SEM图片” 展开，详细介绍了SEM高质量图片的8大评价标准，并从样品制备、仪器参数调整、常见成像假象解决三大核心维度，结合具体案例与图表提供实操方…