离子减薄
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透射电镜样品离子减薄技术:低能损伤控制与非晶化研究
总结:本文围绕透射电镜(TEM)样品的离子减薄制备技术展开,详细介绍了离子减薄过程中损伤(如非晶层形成、表面粗糙化)的产生机制,系统梳理了硅和GaAs材料在不同离子能量、入射角下的…
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透射电镜(TEM)样品制备方法解读——掌握有机/无机材料制样核心技术(FIB/超薄切片/离子减薄)与实操要点
总结:本文系统介绍了透射电镜(TEM)样品制备的完整技术体系,针对有机/生物类软质样品,详细阐述了超薄切片、免疫标记、染色、冷冻固定、化学固定、脱水、渗透、聚合等关键步骤及负染色、…
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材料科学TEM 样品制备难?一文掌握5大核心方法(离子减薄/电解抛光/FIB)与实操要点
总结:本文详细介绍了材料科学领域透射电子显微镜(TEM)样品的制备技术体系,明确了TEM样品需满足的7项基本要求,系统阐述了5大核心制备方法——TEM样品载网法、离子减薄、电解抛光…