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球差校正
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叠层成像技术突破限制:在未校正设备实现 0.44 埃超高分辨率
总结:本文详细介绍了叠层成像技术的技术原理(通过采集不同探针位置的会聚束衍射图样,结合计算重构消除像差影响)、在未校正扫描透射电镜(STEM)中的突破性应用(对扭转二硒化钨双分子层…
测试表征—华算科技
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