深度剖析

  飞行时间二次离子质谱仪现已成长为一项强大的微观表面分析技术，其应用范围超越了传统动态 SIMS 的局限。此技术的显著优势包括：能够同步检测几乎无质量限制范围内的多种离子；具备出…

  介绍完二次离子质谱的基本概念及其运作原理，再深入探讨一下飞行时间二次离子质谱技术。   ToF-SIMS 概述   飞行时间（ToF）选择器测量的是二次离子（SI）到达检测器所…