样品制备

说明：本文华算科技介绍了表面增强拉曼光谱（SERS）的基础、电磁与化学两种增强机制及金属纳米颗粒、纳米球覆膜、光刻结构三类活性材料的制备方法。读者可系统学习到SERS提升拉曼信号的…

说明：本文华算科技主要介绍了光学显微镜与扫描电镜的成像原理及性能对比，详细阐述了扫描电镜的工作原理，包括电子束的产生与聚焦、电子束扫描与信号激发、信号检测与成像等步骤，并说明其在材…

说明：本文聚焦XPS技术，将概述其定义与光电子效应原理，以及其在电催化材料研究中确认表面元素组成、分析化学价态、解析电子相互作用及验证表面稳定性的核心价值。读者可通过本文了解到样品…

说明：本文华算科技主要讲解XRD结晶度降低的核心原因，理清物理、化学、微观结构、样品制备与测试四类关键影响因素，包含多种表征技术互相验证的方法，可帮助读者全面掌握XRD结晶度相关的…

  纳米颗粒团聚的原因 纳米颗粒在制备过程中，由于冲击、摩擦及粒径的减小，表面积累了大量的正电荷或负电荷。因颗粒形状各异、极不规则，造成表面电荷在颗粒的拐角及凸起处聚集，凸起之处或…

FIB-SEM的三维重构技术是当前微观结构分析的核心技术之一，其本质是通过“切割-成像-叠加”的循环，将样品内部的二维图像序列重建为三维立体模型。FIB-SEM三维重构技术凭借纳米…

前言 很多朋友，尤其是对于SAXS测试不熟悉的新手，经常因为没有做好样品的前期准备，导致浪费测试机时，花了测试经费不说，还费时费力。那么，如何根据自己的样品体系，准确地制备好样品呢…

聚焦离子束（Focused Ion Beam，FIB）加工是一种基于高能离子束与物质相互作用的精密微纳加工技术，通过将离子束聚焦为纳米级束斑，利用离子束轰击样品表面，实现材料的刻蚀…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）观察粉末样品是纳米材料研究的重要手段之一。本文介绍了TEM观察粉末样品的两种方法、常用的粉…

     在软 X 射线散射实验中，样品厚度的精准控制是实验成功的关键前提，而适配厚度要求的制备方法则直接决定实验数据的可靠性。本文将系统梳理样品厚度控制的核心逻辑，并详解三大实用…

样品制备重要性 透射电子显微镜分辨率高、放大倍数高，可以揭示物质内部的微细观结构，是人们了解、认识事物内部结构不可缺少的工具。观察透射电镜的最终目的是得到清晰、高质量的照片，要想摄…

透射电子显微镜（TEM）的工作原理是利用加速和聚焦的电子束投射到极薄的样品上，电子在样品中与原子发生碰撞后改变方向，从而产生立体角散射。这种散射的效果与样品的密度和厚度紧密相关，进…

透射电子显微镜（Transmission electron microscope, TEM）是使用最为广泛的电子显微镜之一，和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。T…

原理 透射电镜主要基于电子束与超薄样品相互作用的原理。其利用电子加速枪产生一束高能电子束，经过一系列电磁透镜聚焦和准直后，照射到超薄样品上。电子束穿过样品后，样品中不同区域的原子对…

透射电镜（TEM）是什么？ 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope， TEM）于1932年左右发明，是一种以波长极短的电子束作为电子光源，…

总结：本文系统介绍了透射电镜（TEM）样品制备的完整技术体系，针对有机/生物类软质样品，详细阐述了超薄切片、免疫标记、染色、冷冻固定、化学固定、脱水、渗透、聚合等关键步骤及负染色、…

总结：本文详细介绍了材料科学领域透射电子显微镜（TEM）样品的制备技术体系，明确了TEM样品需满足的7项基本要求，系统阐述了5大核心制备方法——TEM样品载网法、离子减薄、电解抛光…

总结：本文详细介绍了聚焦离子束（FIB）与透射电镜（TEM）结合的技术体系，包括TEM的核心分析能力、FIB技术的发展简史与基本原理，重点阐述了FIB在TEM样品制备中的关键作用，…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…

总结：在本文中，读者可系统学习到半导体TEM样品（横截面 / 平面）的针对性制备步骤、FIB技术在特定区域样品制备中的要点，掌握FIB损伤层控制与样品转移的关键技巧，了解不同制备方…