样品制备
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半导体工业TEM样品制备技术：方法演变、FIB应用与损伤控制
总结：在本文中，读者可系统学习到半导体TEM样品（横截面 / 平面）的针对性制备步骤、FIB技术在特定区域样品制备中的要点，掌握FIB损伤层控制与样品转移的关键技巧，了解不同制备方…
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扫描电镜（SEM）操作指南：如何获得高质量的SEM图片
总结：本文围绕 “如何获得高质量SEM图片” 展开，详细介绍了SEM高质量图片的8大评价标准，并从样品制备、仪器参数调整、常见成像假象解决三大核心维度，结合具体案例与图表提供实操方…
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如何制备同步辐射XAFS测试样品？
说明：本文详细介绍了XAFS样品制备的核心要点：强调样品需均匀且无杂质，推荐压片法（粉末+粘合剂混合压制）。 同时重点推荐了XAFSmass程序，用于精确计算粉末量以实现最佳吸收率…
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同步辐射（XAFS）技术解读：样品制备方法！
同步辐射XAFS样品制备X射线吸收精细结构 (XAFS) 光谱法，也称为X射线吸收光谱法，是一种可应用于多种学科的技术，因为它可以对固体、气体或液体进行测量，包括湿润或干燥的土壤、…
