半定量分析
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扫描电子显微镜（SEM）在矿物表征中的核心技术与应用解析
扫描电子显微镜（SEM）凭借纳米级分辨率、大景深及多功能联用特性，已成为矿物学研究、矿产资源勘探与加工等领域的核心表征工具。相较于传统光学显微镜（OM）1000 倍的最大放大倍数，…
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XPS结合能左移、右移的原因？
说明：X射线光电子能谱（XPS）已成为材料科学领域不可或缺的表面分析技术。 本文将从XPS的核心定义出发，探讨其图谱解读，并揭示XPS结合能左移、右移的原因。 一、XPS是什么？ …
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价态变化，XPS峰往哪移？
说明：X 射线光电子能谱（XPS）是一种基于光电效应的表面分析技术，广泛应用于材料科学等多个领域。本文介绍了XPS的基本原理、主要应用，说明了价态变化时XPS峰位移的规律。 一、X…
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XPS 数据处理软件 Avantage 的应用
目前 XPS 是应用非常广泛的的一种表面分析技术，其原理基于光电效应，当一束特定能量的X射线照射到固体样品上时，便可将原子中的内层电子激发出来，激发出的光电子动能被能量检测器检测分…
