TEM

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）凭借其亚埃级（Å）的高空间分辨率和对电子信号的多样化分析能力，成为金属材料研究中揭示微观结…

在透射电子显微镜（TEM）分析中，形貌图是观察材料微观结构（晶体形貌、缺陷分析、相分布情况等）的核心手段。TEM形貌成像的本质是利用电子束穿过样品后，因样品不同区域的厚度、原子序数…

聚焦离子束（Focused Ion Beam，FIB）加工是一种基于高能离子束与物质相互作用的精密微纳加工技术，通过将离子束聚焦为纳米级束斑，利用离子束轰击样品表面，实现材料的刻蚀…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）观察粉末样品是纳米材料研究的重要手段之一。本文介绍了TEM观察粉末样品的两种方法、常用的粉…

原位透射电子显微镜（In-situ TEM）技术通过在透射电镜中集成特殊样品台或反应池，使研究人员能在实时、动态条件下观察材料在外界刺激（如加热、拉伸、电场等）下的结构演变，已成为…

说明：本文华算科技系统介绍了多种光谱与空间分辨光谱技术，涵盖拉曼、红外、X射线衍射、荧光等多种光谱方法，以及光学显微镜、SEM、TEM、AFM、SECM等空间分辨技术。通过阅读，您…

    孪晶及其衍射斑     对铜或镁合金有了解的朋友们想必对下面图片里的这种形貌并不陌生： 图片中展示的是很典型的孪晶形貌。所谓孪晶，是指两个晶体(或一个晶体的两部分)沿一个公…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们  孪生变形 与立方晶格结构金属以位错滑移机制实现塑性变形不同，密排六方的晶格结构需要耦合多种变形机制才能实现任意方向上的塑性变形； 由于…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 Stacking fault(堆垛层错) 实际晶体结构中，密排面的正常堆垛顺序遭到破坏或错排时，会产生堆垛层错，简称层错。 堆垛层错（S…

在透射电子显微镜（TEM）观察过程中，我们常常看能观察到大量位错线（图1），但如何准确区分其类型（刃型位错、螺型位错和混合位错）呢？本文将从分析原理、拍摄参数（g矢量）的选择与位错…

孪晶（Twin）是指晶体内部原子排列形成的一种特殊对称结构——同一晶体中，两部分（或多部分）原子以特定的对称关系（如镜像、旋转）排列。这种结构广泛存在于金属、半导体等晶体材料中，对…

       本文修订了立方晶体金属的立方织构(001)[100]、剪切织构(001)[110]、高斯织构(110)[001]和黄铜织构(110)[112]的理论极图。这些基础数据…

摘要 本文介绍元素能谱特征峰的产生原理及应用，元素能谱特征峰不受元素化合价态的影响，讲述了元素能谱特征峰的检测中可能出现的和峰及逃逸峰的产生原理及计算、识别方法，列出各元素特征X射…

能谱EDS及TIA介绍 电子束照射样品会产生特征X射线； 通过探测和分析X射线可以得到一张按X射线能量大小分布的图谱； 因此EDS可以定性、半定量的确定样品中的大部分元素。 EDS…

前言 英文缩写词是一个单词或词组的简写形式。 特定的缩写词使得词语更加易懂。 缩写词不仅有效缩短了著作的长度，有时还能显出作者精通该领域。 来看看你对TEM领域的缩写了解多少 01…

TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜（TEM）的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度（衬度：即不同区域的亮暗差别）成像，由衍射衬度原理形成的电子图…

  -专-业-   -稳-定-   -高-效- —— 简介 —— 　 透射电子显微镜（简称透射电镜，TEM）是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜，它用聚焦电子束作为照明光源，使用对电…

一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些？ 一般材料在做TEM检测时关注：各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等，特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构：各个相晶粒的尺寸、形状分…

你测量的 实际需要测量的结果 二图片的差别：测量结果是没有单位， 也就意味着图片测量数据是无效的。 那么 ，如何实现“图片测量”自带单位？————标尺校准如果是DM文件，格式是dm…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 LC锁的三个问题 1.LC锁是什么？2.TEM高分辨下长什么样？3.能说明什么问题？ 问题一：LC锁是什么？ LC锁是一种不动位错(se…