技术对比

TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜（TEM）的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度（衬度：即不同区域的亮暗差别）成像，由衍射衬度原理形成的电子图…

扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）作为材料微观世界探索的两大支柱技术，均利用电子束成像，但原理与应用差异显著。深入理解其区别，有助于研究者精准选择工具，高效揭示物质微观奥秘。 …

总结：本文详细介绍了两种主流电子显微镜技术——透射电子显微镜TEM与扫描电子显微镜SEM的基础理论、工作原理、核心组件，系统对比了两者在成像方式、样品要求、图像特征、加速电压及应用…