材料表征

       本文修订了立方晶体金属的立方织构(001)[100]、剪切织构(001)[110]、高斯织构(110)[001]和黄铜织构(110)[112]的理论极图。这些基础数据…

TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜（TEM）的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度（衬度：即不同区域的亮暗差别）成像，由衍射衬度原理形成的电子图…

  -专-业-   -稳-定-   -高-效- —— 简介 —— 　 透射电子显微镜（简称透射电镜，TEM）是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜，它用聚焦电子束作为照明光源，使用对电…

一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些？ 一般材料在做TEM检测时关注：各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等，特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构：各个相晶粒的尺寸、形状分…

你测量的 实际需要测量的结果 二图片的差别：测量结果是没有单位， 也就意味着图片测量数据是无效的。 那么 ，如何实现“图片测量”自带单位？————标尺校准如果是DM文件，格式是dm…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 ● TEM中判断位错类型的三个问题 1.TEM判定位错类型原理是什么？ 2.如何选择合适的g矢量？ 3.怎么结合TEM数据来判断？ 问题…

1、引言自古以来，人类从未停止过对微观世界的探索，采用波长更短的电子束为光源的电子显微仪器打破了可见光的衍射极限，为人类打开了观察纳米世界的大门，使人们看到了在纳米尺度上研究单一原…

1. 生物样本的送检类型   用于TEM观察的生物样本，主要为3种类型：组织、离心团和微粒悬液。 其中，动物的肝、肾、肠和植物叶片、根、茎等，就属于组织类样本。组织样本的特点是结构…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是研究金属材料微观结构的核心工具之一，它凭借极高的分辨率（可达亚埃级别）和强大的综合分析…

一、项目介绍生物透射电镜是观察生物细胞样品内部形态的重要工具，其电压在80-120kv可以降低生物样品因高能电子束辐射而损伤的影响，同时依赖于生物样品制备技术的发展，如超薄切片技术…

透射电子显微镜（Transmission electron microscope, TEM）是使用最为广泛的电子显微镜之一，和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。T…

说明：本文围绕透射电子显微镜（TEM）的检测能力展开，详细介绍了其在材料微观结构表征、晶体结构与晶体学特性分析、成分与化学状态分析、动态过程与原位表征及特殊样品表征五大核心领域的具…

原理 透射电镜主要基于电子束与超薄样品相互作用的原理。其利用电子加速枪产生一束高能电子束，经过一系列电磁透镜聚焦和准直后，照射到超薄样品上。电子束穿过样品后，样品中不同区域的原子对…

  总结：本文由华算科技整理，以实例演示的方式，详细介绍了Digital Micrograph（DM）软件在TEM图像分析中的基本操作与核心功能、关键分析操作及位错分析流程，同时提…

总结：本文详细介绍了透射电镜TEM结果的分析处理方法，重点围绕Digital Micrograph软件的实操展开，包括HRTEM图像分析和选区电子衍射SAED分析，明确了不同文件格…

z zo 总结：本文系统介绍了透射电镜TEM的入门知识，包括基本工作原理、核心组件的功能与分类，详细阐述了 TEM 的应用场景、图像类别及样品要求。 读者可学习到TEM的基础理论与…

总结：本文详细介绍了原位透射电镜技术在半导体研究中的核心应用，围绕半导体异质结构中应变与位错的动态观察展开，阐述了原位TEM的基本原理、技术实现、样品制备方法，重点呈现了其在半导体…

总结：本文围绕半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察展开，详细介绍了半导体异质结构中应变诱导缺陷的产生机制，系统阐述了透射电子显微镜TEM的多种成像技术——双束条件TBC成像…

总结：本文详细介绍了准晶（QCs）这一颠覆传统晶体对称性的新材料，包括其发现历程、核心特征、分类，重点阐述了透射电子显微镜TEM技术在准晶结构研究中的核心应用——通过选区电子衍射S…

总结：本文以时间为主线，详细介绍了透射电子显微镜（TEM）技术的发展与碳材料研究相互促进的历史进程，涵盖TEM技术的核心演进，以及其在碳材料领域的关键成果——从20世纪40年代观察…