晶粒尺寸
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多晶体材料晶粒尺寸的计算方法解析：金相法、XRD 法、电镜法与机器学习辅助法
说明：本文华算科技介绍了晶粒尺寸的基础概念、计算方法。晶粒尺寸是多晶体材料中单个晶粒的平均尺寸，通过统计多个晶粒数据来表征。计算方法包括传统金相法、X射线衍射法、电子显微分析法和机…
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EBSD 数据解读入门（上）：晶粒尺寸统计与织构表征方法
电子背散射衍射（Electron Backscatter Diffraction，EBSD）技术是解析材料微观结构与宏观性能的关键表征技术，其能提供材料微观尺度下的晶体结构、取向、…
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XRD峰偏移、展宽或尖锐化说明发生了什么？
一、XRD峰偏移 峰的位置变化（向左/右偏移）主要与晶面间距（d值）变化有关，遵循布拉格方程（nλ=2dsinθ）： 晶格应变效应 晶格应变被定义为纳米材料晶格中原子间平衡间距的偏…
