同步辐射XAS数据处理标准流程指南（补充版）

收到反馈，大家看了上篇Fe的处理流程后XAS数据处理-Athena&Artemis学习指南，总感觉缺了点什么？没错是缺了点什么，XAS数据处理是至少需要一个标准样品的，但是在上个示例中并没有标准样品的处理过程。

这次展示一下如何从一个样品+标样得到有用信息。标样数据质量往往都不赖，所以处理起来更容易，path找起来更方便，拟合起来也更快更好。

本次示例与上次一样，分为三个部分：指南部分，Athena部分，Artemis部分，指南看问题，其余看操作。

如果，我是说如果，你能把这次的过程应用到自己数据上，那你就省钱了。如果不行，也别为难自己，该花花是吧，少受点罪。

首先是数据导入部分，有些朋友的foil数据和样品数据在一起，文件一导入直接眼花了，那咋整嘛，看这个整嗷。

XAFS数据分析至少需要有Energy+前电离室+后电离室三组数据。各光源导出的数据各不相同，一般为Energy+电离室数据（四个检测器同时工作，产出四组数据，及透射+荧光+标样，）+计算后的数据（此部分数据为每两组电离室数据经过归一化处理后得到）。

透射模式：

样品中待测元素含量高，经验值在10%以上。

荧光模式：

低浓度，痕量元素样品，万分之几以上10%以下。

仔细阅读上面的部分！如果你看明白了，那么恭喜，以后你就不存在导入数据出问题的毛病了。没看明白再返回去重新看！

看文章里foil就是在E与R空间和样品对比一下，为啥在测试时都要一起做一个foil呢？这个foil的目的一是为了清楚这次测试的能量偏差，将本次偏差校准后，你就可以用以前的数据和这次数据对比了，请注意是对比哦，是E空间图像对比，与R空间横坐标对比（强度就不能对比了）。看明白了别急，接下来的更重要！

因为不在同一时间段测试，并且拟合时我们需要固定S₀²（振幅衰减因子），所以需要从标准样品数据里得到S₀²，这个S₀²和能量偏移一样，理论上相同光源不会出现很大偏差，但是实际就难说，所以需要与样品一起测试的标样来提供相对准确的S₀²。

在处理sample与foil数据时，处理条件需要一摸一样吗？

想啥呢，不可能的好吧，正常情况下各处理各的，在原位实验时可以考虑批量处理。

为啥都要一起分析了，还不能用同样的参数处理？这样的话还有啥说服力？

首先在处理XAS数据时，最主要的目的是为了讲数据可以反馈的物理信息提取出来，所以我们要本着让数据反馈出更丰富/真实的信息，来处理。

处理foil是为了提供一个参考，并且foil的数据一般都不赖，可用数据多，R空间信息更加真实；但是到了sample时，数据质量可能就没那么好，在变换时会携带一些干扰信息，所以就需要我们去分辨干扰信号有没有覆盖掉真实信号，覆盖了就屏蔽掉，略带一点噪音无影响。

看完这两个图你还要坚持用一样的处理参数嘛？包不能的。

好，那能解释一下R空间的强度关系吗？刚才你不是说只能对比横坐标不能对比强度嘛。

可以先小讲一下，因为这个还是比较复杂的，毕竟此部分就涉及那个复杂的公式了。

首先，在Kspace时，我们对不同样品进行的加权是不一样的，所以Rspace的强度会出现明显区别，当你要对比R space的强度时，尽量保证前面的参数差距不大，k的加权更要一样。

你可以先知道强度amplitude与什么有关，S₀²&CN&σ²，三个参数共同影响了强度，S₀²的是振幅衰减因子，CN是近邻配位原子，σ2是无序度因子，三个物理因素共同影响了amplitude，当你有一组原位数据时，批量做完变换就可以分析这些因素了。

说多了，这次数据处理不涉及原位数据呢，先看个大概行吧各位。

不对呀，你前面说每个数据要分别处理，怎么到分析R space强度时又要尽可能一样了，甚至原位数据又要批量处理了？

没毛病嗷老铁，看的够仔细的，解释一下，不冲突，想要分析Rspace强度，你要先保证同一次测试，再保证每条谱线对应的样品是一种样品，同元素不同类别没法分析，经过这两个条件的约束你会发现，这不就是仅针对原位数据吗？差不多吧，非原位只有少数情况适用，你要对这些很模糊你就别用好吧，很容易自己给自己绕进去。

如图，这样就别分析强度了嗷，看一下横坐标就完事了。

为啥有时候R space在1左边会出现峰？

包是假信号的朋友，返回去检查数据质量，检查有没有噪音覆盖掉了真实信息，能扣坏点扣坏点，扣不了就截取能用的部分，截的太多就只能分析一下第一层的近邻原子信息了。这个就不放图了。

拟合foil的path和拟合样品的path一不一样？

大概率时不一样的朋友，样品path可能涉及更多（第一层第二层），foil的意义在于确定一个S₀²，以便我们做这次分析。

S₀²一定要从foil样品得到吗？从其他标准样品得到不行吗？

S₀²不一定要从foil得到，S₀²与吸收原子强相关，与配位环境弱相关，与光源光线相关，样品厚度弱相关。

所以foil的S₀²与sample的S₀²完全一样吗？不一定，我们使用foil的S₀²只是为了得到一个有理有据的值，有学者研究在不同光源研究过这个问题，每个光源做出的数据S₀²都会有很大差异。

当然可以从其他标准样品得到了，如果你有配位数已知且结构与sample近似的标准样品，那么毫无疑问从这里得到S₀²也是没问题的，不过这样的测试成本会高于foil呢。

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