在数据分析时，我们需要对SEM/TEM电镜图片的晶粒尺寸、孔隙大小、颗粒分布等进行统计，以评估光催化活性、比表面积与活性位点、扩散限制效应、催化选择性调控、化学稳定性与反应活性、力学性能、导电性、光学性能、耐腐蚀性、离子传输等。
那么，我们如何对电镜图片进行尺寸统计，并将结果放到SEM图中呢？
这里需要用到Nano Measurer和Origin软件，Nano Measurer软件是一款简单易用的长度统计分析软件，主要用于分析扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）图像的微纳米尺度下的长度、直径和孔径等尺寸统计分析，甚至可以粗略分析晶面间距。
1、打开Nano Measurer软件，选择文件，点击”打开”（这里需要注意的是，Nano只能打开.JPG格式的图片，因此保存图片时需要注意格式转换）
2、打开文件后，先标记标尺，贴合标尺长度画直线后，点击设置-标尺，输入标尺数值（注意单位）
4、画的时候可以打开报告中的及时报告，这样可以看到每一个样品尺寸
5、标记完所有样品尺寸后，点击报告下面的查看报告，点击统计报告，输出为txt格式
6、打开Origin，对尺寸分布进行作图：
7、打开刚刚的txt文件，只保留下面统计结果，保存为新的txt文件
8、在Origin中打开新的txt文件
9、用尺寸分布中位数和个数作柱状图（注意横纵坐标转换）
11、对尺寸进行非线性拟合，选择分析→拟合→非线性拟合→高斯函数
12、拟合完成后，根据自己的喜好对拟合线进行美化
13、修改完成后，右击复制粘贴到PPT中的SEM图即可
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