首页
最新资讯
资料下载
计算干货
测试干货
顶刊解读
学术招聘
视频课程
计算培训
登录
注册
华算科技
首页
透射电子显微镜样品
透射电子显微镜样品
测试表征
如何制备透射电子显微镜(TEM)样品
1932年,德国科学家Knoll和Ruska成功研制出世界上第一台透射电子显微镜(transmission electron microscope, TEM)。 经过近90年的发…
2025年4月15日