透射电子显微镜样品

• 测试表征

  如何制备透射电子显微镜（TEM）样品

  1932年，德国科学家Knoll和Ruska成功研制出世界上第一台透射电子显微镜（transmission electron microscope, TEM）。  经过近90年的发…

  华算科技

  2025年4月15日

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