纳米晶体

说明：本文华算科技系统阐述了如何通过透射电子显微镜选区电子衍射（SAED）技术深度解析晶体材料的微观结构信息，探讨了SAED在晶体对称性判定、晶格参数定量、相鉴定、缺陷分析及应变表…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向…